晶格结点原子检测

检测项目

1.原子占位率测定：精度0.5%，测量范围95%-100%
2.晶格常数偏差分析：分辨率0.001，误差限0.01
3.位错密度计算：灵敏度≥10^6cm^-2，适用尺度1nm-10μm
4.空位浓度检测：检出限0.01at%，温度范围20-1500℃
5.晶界偏析系数测定：元素浓度梯度分辨率0.1nm/decade

检测范围

1.半导体材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)等单晶衬底的掺杂均匀性分析
2.金属合金：钛合金、镍基高温合金的相变结构表征
3.陶瓷材料：氧化铝(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)的晶界缺陷检测
4.纳米材料：碳纳米管/石墨烯的层间堆垛有序度测试
5.高分子晶体：聚合物共混体系的结晶度定量分析

检测方法

1.ASTME112-13：晶粒尺寸定量金相分析法
2.ISO24173:2009：电子背散射衍射取向测量规范
3.GB/T13305-2008：金属材料X射线衍射物相定量标准
4.ISO16700:2016：扫描电镜能谱仪校准规程
5.GB/T19501-2013：电子探针显微分析通用技术条件

检测设备

1.JEOLJEM-ARM300F：球差校正透射电镜，原子级分辨率0.078nm
2.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪，角度重复性0.0001
3.OxfordInstrumentsSymmetry：EBSD探测器，采集速度4000点/秒
4.ThermoFisherScios2：双束聚焦离子束系统，定位精度5nm
5.ShimadzuEPMA-8050G：电子探针显微分析仪，元素检出限0.01wt%
6.MalvernPanalyticalEmpyrean：多功能X射线平台，2θ范围0-168
7.ZeissSigma500：场发射扫描电镜，二次电子分辨率0.6nm@15kV
8.HORIBALabRAMHREvolution：拉曼光谱仪，空间分辨率0.5μm
9.NetzschDIL402ExpedisClassic：热膨胀仪，温度精度0.1℃
10.Agilent5500AFM：原子力显微镜，Z轴分辨率0.05nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.