相位多值性检测

检测项目

1.相位偏移量测量：分辨率≤0.1，动态范围180
2.频率响应一致性：测试带宽10MHz-40GHz
3.多周期相位稳定性：重复性误差＜0.05RMS
4.非线性失真分析：谐波畸变阈值≤-50dBc
5.温度漂移特性：温控范围-40℃~+85℃，精度0.5℃

检测范围

1.光学镀膜元件（增透膜/高反膜）
2.微波射频器件（移相器/滤波器）
3.光纤通信系统（DWDM模块/光放大器）
4.压电陶瓷材料（换能器/谐振器）
5.半导体集成电路（毫米波芯片/相控阵单元）

检测方法

1.ASTME2109-20：基于干涉法的相位测量规程
2.ISO13694-2018：激光束相位特性测试通则
3.GB/T11297.3-2015：光学薄膜激光波前相位测试
4.GB/T17626.30-2023：射频设备相位噪声测量方法
5.IEC61300-3-53:2020：光纤器件偏振相关相移测试

检测设备

1.ZygoVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，PV精度λ/100
2.KeysightN5227B网络分析仪：频率范围10MHz-67GHz
3.Agilent81606B光波元件分析仪：调制带宽20GHz
4.OphirSP928积分球探测器：光谱范围200-1700nm
5.NewportM-UTM-RS6六轴调节台：位移精度0.1μm
6.Rohde&SchwarzFSWP相位噪声分析仪：基底噪声-190dBc/Hz
7.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：波长覆盖400-1100nm
8.AnritsuMP1900A误码率测试仪：时钟恢复抖动＜100fs
9.FlukePM6681高稳频率计：时间基准精度510⁻⁰
10.HamamatsuC13340热释电探测器：响应时间20ns

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.