检测项目
1.驻波比(VSWR):频率范围1-40GHz内≤1.5:1
2.方向图特性:主瓣宽度≤15,副瓣电平≤-20dB
3.增益系数:频段中心点≥20dBi(0.5dB容差)
4.极化纯度:交叉极化隔离度≥30dB
5.相位中心稳定性:温度循环(-40℃~+85℃)下偏移量≤λ/20
检测范围
1.铝制抛物面反射器(表面粗糙度Ra≤0.8μm)
2.碳纤维复合材料天线罩(介电常数εr=3.00.2)
3.铜质馈源组件(导电率≥58MS/m)
4.PTFE介质支撑结构(损耗角正切tanδ≤0.0003)
5.镀银波导接口(镀层厚度≥8μm)
检测方法
1.远场测试法:依据IEEEStd149-2021构建标准测试场(D≥10λ)
2.近场扫描法:采用GB/T9410-2023平面近场扫描规程
3.网络分析仪法:执行ASTME2317-19双端口校准程序
4.环境试验:参照GJB150A-2009进行湿热循环试验
5.材料特性测试:按ISO15333:2018测定复合材料介电参数
检测设备
1.矢量网络分析仪:KeysightPNA-XN5247A(频率范围10MHz-67GHz)
2.天线测试转台:MVGSR2400(定位精度0.01)
3.微波暗室:ETS-LindgrenModel5665(静区尺寸Φ6m6m)
4.激光跟踪仪:LeicaAT960-MR(空间坐标精度15μm/m)
5.材料测试系统:Agilent85072A(10MHz-110GHz介电特性测量)
6.温度试验箱:WeissWK3-340/70(温变速率≥3℃/min)
7.表面轮廓仪:TaylorHobsonFormTalysurfi120(分辨率0.8nm)
8.X射线测厚仪:FischerXDV-μ(镀层测量精度0.1μm)
9.频谱分析仪:R&SFSW67(分析带宽510MHz)
10.极化分析仪:AnritsuMN4765B(动态范围>80dB)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。