跌落检测

检测项目

1.跌落高度测试：0.5m至2.0m可调范围，步进精度1cm

2.冲击力峰值测量：100N至5000N动态力值采集系统

3.加速度响应分析：50g至200g三轴加速度传感器监测

4.表面形变测试：激光位移计测量≤3mm微观变形量

5.循环跌落验证：1至10次重复冲击耐久性测试

检测范围

1.消费电子产品：智能手机/平板电脑整机及组件

2.包装材料：瓦楞纸箱/泡沫缓冲结构/木制托盘

3.工业设备：PLC控制器/压力传感器/精密阀门

4.玻璃制品：液晶显示屏/实验室器皿/建筑幕墙单元

5.医疗器械：便携式监护仪/输液泵/内窥镜组件

检测方法

ASTMD5276-19《运输包装件跌落试验规程》规定棱边跌落程序

ISO2248:1985《包装-完整满装运输包装件垂直冲击跌落试验》

GB/T4857.5-2021《包装运输包装件基本试验第5部分:垂直冲击跌落试验》

IEC60068-2-32:2021《环境试验第2-32部分:自由跌落试验方法》

MIL-STD-810HMethod516.8《军用装备冲击试验程序》

检测设备

1.XYZ-2000型电磁式冲击试验机：最大载荷50kg，高度调节分辨率0.1mm

2.ABC-500三轴动态力采集系统：采样率100kHz，量程5000N

3.DEF-G6激光位移传感器：测量精度0.01mm，扫描频率10kHz

4.HIJ-880高速摄像系统：帧率20万fps，分辨率12801024像素

5.KLM-30A环境模拟箱：温度范围-40℃~+85℃，湿度控制3%RH

6.MNO-P7频谱分析仪：频率范围DC~10kHz，FFT分析功能

7.PQRS-T9气动释放装置：释放时间＜5ms，重复定位精度0.5

8.UVW-X3数字应变仪：32通道同步采集，应变分辨率1με

9.YZ-F500材料硬度计：洛氏/布氏/维氏三模组自动切换

10.ZA2000-CT断层扫描仪：微米级内部结构损伤识别系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.