微地貌检测

检测项目

1.表面粗糙度：Ra0.01-25μm|Rz0.05-100μm|Sa/Sq三维粗糙度参数
2.轮廓曲率半径：测量范围0.1-500mm|精度0.5%
3.三维形貌重构：Z轴分辨率0.1nm|横向采样间距0.1μm
4.台阶高度测量：量程0.1nm-10mm|重复性误差≤0.8%
5.波纹度分析：波长范围0.08-8mm|幅值分辨率5nm

检测范围

1.金属材料：铝合金轧制件/钛合金切削件/不锈钢抛光件
2.高分子材料：注塑成型件/聚碳酸酯薄膜/橡胶密封面
3.精密光学元件：非球面透镜/衍射光栅/蓝宝石窗口片
4.电子元器件：PCB焊盘/芯片封装面/柔性电路板
5.涂层材料：PVD镀层/DLC涂层/热障涂层截面

检测方法

1.接触式测量：GB/T3505-2009轮廓法评定表面粗糙度
2.白光干涉法：ISO25178-602非接触式三维表面测量
3.激光共聚焦：ASTME2848微观几何特征表征标准
4.原子力显微镜：GB/T31227-2014纳米尺度形貌测试规范
5.聚焦离子束：ISO14606截面制备与观测技术标准

检测设备

1.TaylorHobsonPGI1240：接触式轮廓仪|Ra分辨率0.8nm
2.OlympusLEXTOLS5000：激光共聚焦显微镜|Z轴重复性1nm
3.BrukerContourGT-K：白光干涉仪|100x物镜横向分辨率0.15μm
4.ZygoNewView9000：相移干涉系统|垂直量程10mm
5.KeyenceVR-6000：三维形貌扫描仪|最大扫描速度200mm/s
6.HitachiAFM5100N：原子力显微镜|XYZ扫描范围90907μm
7.ZeissSmartproof5：共聚焦显微镜|多模式混合测量系统
8.MitutoyoSJ-411：便携式粗糙度仪|符合JISB0659标准
9.FEIHeliosG4UX：双束电镜系统|FIB加工精度3nm
10.NikonNEXIVVM-300S：光学轮廓仪|自动变倍物镜组

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.