离子晶体不谱检测

检测项目

1.晶格常数测定：精度0.001（Cu-Kα辐射）
2.阳离子迁移数测量：误差范围≤0.5%（恒电位极化法）
3.热膨胀系数测试：温度范围-196℃~1600℃（DIL402C）
4.缺陷浓度分析：检出限110⁷cm⁻（正电子湮灭谱）
5.离子电导率表征：频率范围10mHz-32MHz（NovocontrolAlpha-A）

检测范围

1.固态电解质材料（Li7La3Zr2O12,NASICON型结构）
2.高温陶瓷材料（YSZ,GDC氧离子导体）
3.卤化物钙钛矿单晶（CsPbBr3,MAPbI3）
4.快离子导体玻璃（AgI-Ag2O-MoO3体系）
5.质子交换膜材料（Nafion系列改性膜）

检测方法

1.X射线衍射分析：ASTME975-20/GB/T23413-2009
2.交流阻抗谱法：IEC62620:2014/GB/T13345-2020
3.热重-差示扫描量热联用：ISO11358-1:2022
4.中子散射技术：ISO/TS24154:2021
5.二次离子质谱分析：ASTME1504-11(2021)

检测设备

1.RigakuSmartLab9kWX射线衍射仪：θ-θ测角仪配置HyPix-3000探测器
2.NetzschDIL402C热膨胀仪：真空环境0.05μm分辨率
3.BioLogicVMP-300电化学工作站：电流分辨率1pA
4.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统：PIXcel3D探测器
5.PerkinElmerTGA8000热重分析仪：0.1μg称量精度
6.BrukerD8ADVANCE衍射仪：LynxEye阵列探测器
7.KeysightE4990A阻抗分析仪：20Hz至120MHz频率范围
8.ShimadzuXRD-7000衍射仪：石墨单色器Cu靶光源
9.AntonPaarHTK1200N高温腔室：最高1600℃控温精度1℃
10.Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz至110MHz测试带宽

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.