检测项目
1.增益系数测试:测量电子倍增效率(103-106倍),误差≤5%
2.暗电流噪声检测:在10-3lx照度下测定背景噪声值(<1nA/cm)
3.开口面积比分析:采用图像分析法计算有效孔径占比(≥60%)
4.电子寿命测试:持续加载800V电压记录性能衰减曲线(>5000h)
5.耐压强度试验:逐步加压至1.2kV/mm验证绝缘性能
检测范围
1.玻璃基铅硅酸盐微通道板(孔径6-25μm)
2.硅基半导体复合微通道板(电阻率108-1011Ωcm)
3.金属陶瓷复合微通道板(工作温度-50℃~300℃)
4.曲面型微通道阵列组件(曲率半径R50-R200mm)
5.防离子反馈镀层微通道板(Al2O3/MgO镀层厚度50-200nm)
检测方法
1.ASTMF52-2021:微通道板增益特性测试规程
2.ISO12744:2018:电子光学器件暗电流测量方法
3.GB/T18912-2021:微通道板结构参数测定标准
4.ISO21283:2019:电子倍增器件寿命加速试验规范
5.GB/T20234-2020:光电阴极组件匹配性测试指南
检测设备
1.ZEISSSigma300场发射扫描电镜(分辨率1nm@15kV)
2.PhototekMCP-Tester200光电综合测试系统(动态范围10-12-10-3A)
3.KeysightB1505A功率器件分析仪(电压3000V/精度0.05%)
4.ThermoScientificHeliosG4等离子FIB-SEM双束系统
5.HamamatsuC12132-01光电响应测试平台(波长200-1100nm)
6.BrukerContourGT-X3白光干涉仪(垂直分辨率0.1nm)
7.Agilent4156C精密半导体参数分析仪(最小电流100aA)
8.Instron6800系列万能材料试验机(载荷100kN)
9.LeicaDM8000M金相显微镜(5000光学放大倍率)
10.VacuumTechnologyIncModel960氦质谱检漏仪(灵敏度510-12Pam/s)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。