硅上液晶检测

检测项目

1.响应时间：上升时间（≤5ms）、下降时间（≤8ms），依据灰度切换速率测定
2.对比度：静态对比度（≥1000:1）、动态对比度（≥5000:1），采用全白/全黑场测量法
3.透过率：可见光波段（450-650nm）平均透过率≥92%
4.相位均匀性：相位调制偏差≤λ/50（λ=632.8nm）
5.耐环境性：85℃/85%RH高温高湿测试1000小时后的性能衰减率≤3%
6.像素缺陷率：暗点/亮点密度≤5个/cm

检测范围

1.硅基微显示器：0.24英寸至1.3英寸微型显示面板
2.光学相位调制器：4K分辨率级液晶相位阵列
3.光通信器件：波长选择开关（WSS）用LCoS模块
4.激光投影系统：三片式LCoS光学引擎组件
5.医疗成像设备：内窥镜用高分辨率LCoS成像模组

检测方法

1.ISO13402:2018《液晶显示器光电参数测量规范》
2.ASTMF2553-18《微型显示器对比度测试标准方法》
3.GB/T18910.61-2021《液晶显示器件第6-1部分：环境试验方法》
4.IEC62341-6-2:2020《有机发光二极管和液晶显示器的机械耐久性测试》
5.SJ/T11482-2014《硅基液晶显示器件通用规范》
6.MIL-STD-810HMethod507.6《湿热环境适应性测试》

检测设备

1.椭偏仪：J.A.WoollamM-2000UI，测量液晶层双折射率及厚度
2.分光光度计：PerkinElmerLambda1050+，光谱透过率/反射率分析
3.时序分析系统：HamamatsuC10910-01，响应时间ns级精度测量
4.环境试验箱：ESPECPL-3KPH，温湿度循环控制精度0.5℃/2%RH
5.激光干涉仪：ZYGOVerifireMST，相位均匀性λ/100精度检测
6.自动光学检测机：COGNEXViDiSuite，像素缺陷AI识别系统
7.振动测试台：LDSV964-230，20-2000Hz随机振动谱模拟
8.高低温冲击箱：TABAIESPECTSE-12-A，-70℃~+150℃快速温变测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.