拍摄星迹检测

检测项目

1.星迹长度偏差：测量实际成像轨迹与理论轨迹的线性偏离值（0.5μm/100mm）
2.轨迹连续性误差：量化单帧曝光中星点断裂率（≤3%）
3.弥散斑直径：采用ISO12233标准测量星点半峰全宽（FWHM≤2.5μm）
4.信噪比阈值：计算暗场环境下信号强度与背景噪声比值（SNR≥35dB）
5.色差偏移量：检测不同波长光线的成像位置偏差（ΔC≤0.8μm）

检测范围

1.天文望远镜光学系统（折射式/反射式主镜组）
2.航天遥感器CCD/CMOS模组
3.高技术级赤道仪跟踪系统
4.光学镀膜材料（增透膜/反射膜）
5.高精度导星相机成像单元

检测方法

1.ASTME903-20《材料太阳光吸收率测试方法》用于光通量衰减分析
2.ISO18844:2017《光学系统杂散光测量》规范背景噪声测试
3.GB/T29298-2012《数码照相机光电转换函数测量方法》
4.ISO15752:2010《光学系统星点测试法》规定弥散斑测量流程
5.GB/T33229-2016《光学遥感器实验室辐射定标方法》

检测设备

1.ZygoVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，面形精度λ/100
2.MitutoyoCMM-CrystaApexS坐标测量机：三维测量精度0.6+L/600μm
3.OptikosLensCheckMTF测试仪：空间频率0-200lp/mm
4.AndoriXonUltra888EMCCD：量子效率＞95%@550nm
5.LabsphereLMS-7600积分球光源：输出稳定性0.25%/h
6.ThorlabsBP209-VIS光束分析仪：分辨率19201200像素
7.Newport1918-C光功率计：量程0.1pW-2W
8.KeysightN9020B频谱分析仪：频率范围10Hz-26.5GHz
9.FLIRX8580红外热像仪：热灵敏度＜18mK@30℃
10.Agilent4156C半导体参数分析仪：电流分辨率10aA

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.