双列直插式内存组件检测

检测项目

1.接触电阻测试：引脚与插槽接触阻抗≤30mΩ（DC100mA）
2.绝缘电阻验证：相邻引脚间绝缘阻值≥100MΩ（DC500V）
3.插拔力测定：插入力≤50N/拔出力≥5N（JEDECMO-269标准）
4.信号完整性分析：时钟抖动≤50ps（频率1GHz）
5.温升特性测试：满负载工作温度≤85℃（环境温度25℃）

检测范围

1.DDR4/DDR5SDRAM全系列双列直插组件
2.ECCRegisteredDIMM工业级内存模组
3.SO-DIMM小型化封装移动设备内存
4.NVDIMM非易失性持久内存模组
5.LRDIMM低负载寄存式服务器内存

检测方法

1.电气性能测试依据IEC60512-5-1/GB/T5095.5
2.机械耐久性参照ASTMB539循环插拔试验规程
3.环境适应性执行MIL-STD-810G温度冲击与湿热试验
4.信号质量验证采用JESD79-5DDR5协议一致性测试套件
5.ESD防护等级判定依据ANSI/ESDS20.20静电放电标准

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：完成接触阻抗与漏电流测量
2.TektronixDPO73304SX示波器：支持12GHz带宽信号完整性分析
3.Chroma3360P电源负载一体机：模拟动态电流波动工况
4.Instron5943万能材料试验机：实现插拔力曲线精确记录
5.ESPECPL-3K环境试验箱：执行-40℃~125℃温循测试
6.Agilent4294A阻抗分析仪：验证高频段阻抗匹配特性
7.ThermoScientificHAST试验箱：加速湿热老化寿命测试
8.OMRONZFX-C10视觉检测系统：引脚共面度自动光学测量
9.EMTESTUCS500N静电发生器：执行8kV接触放电测试
10.NIPXIe-5164数据采集卡：多通道同步时序参数采集

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.