全息存储器检测

检测项目

1.存储密度：测量单位面积数据容量（≥1TB/cm），采用相位对比显微成像技术

2.读写速率：测试单次写入/读取时间（≤50ns），测试环境温度251℃

3.信噪比（SNR）：要求≥35dB@405nm波长激光源

4.热稳定性：高温老化测试（85℃/1000小时），数据误码率≤110⁻⁶

5.抗振动性能：随机振动谱0.1-2000Hz/10Grms持续30分钟

检测范围

1.光致聚合物薄膜（厚度50-200μm）

2.铌酸锂晶体基板（直径≥100mm）

3.光敏玻璃存储介质（折射率变化≥0.01）

4.纳米结构金属薄膜（特征尺寸≤100nm）

5.有机-无机杂化材料（热膨胀系数≤5ppm/℃）

检测方法

ASTME3025-15：全息数据存储介质光学特性测试规程

ISO14443-4：非接触式光学存储介质耐久性测试方法

GB/T26242-2019：体全息存储器件通用规范

ISO/IEC30190：信息存储介质环境适应性测试标准

GB/T33768-2017：光电子器件可靠性试验通则

检测设备

1.ZYGOVerifireHD激光干涉仪：波长632.8nm，面形精度λ/1000

2.AgilentCary7000分光光度计：光谱范围175-3300nm

3.KeysightN4985A误码率测试仪：速率40Gb/s，灵敏度-30dBm

4.ThermoFisherARLEQUINOX3000X射线衍射仪：角度重复性0.0001

5.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1nm

6.ESCCS-20振动试验台：最大加速度20Grms

7.ESPECPL-3KPH恒温恒湿箱：温度范围-70~150℃0.5℃

8.HamamatsuC13340高速光电探测器：响应时间10ps

9.OxfordInstrumentsPlasmaPro100刻蚀系统：定位精度50nm

10.LeicaDM2700M偏光显微镜：最大放大倍数1500X

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.