横电模检测

检测项目

1.截止频率：测量范围为1-40GHz，精度0.05GHz
2.品质因数(Q值)：测试范围50-5000，分辨率1%
3.介电常数(εr)：量程2.0-20.0，误差≤0.5%
4.损耗角正切(tanδ)：测量精度110⁻⁴至510⁻
5.模式纯度：分析基模与高次模能量占比≥98%

检测范围

1.微波介质陶瓷（Al₂O₃基、TiO₂基）
2.高频PCB基材（PTFE复合材料、碳氢化合物树脂）
3.射频滤波器腔体（金属化陶瓷/玻璃结构）
4.光子晶体光纤（周期性折射率调制结构）
5.人工电磁超材料（负介电常数/磁导率复合材料）

检测方法

1.ASTMD5568-22《波导法测定微波材料介电特性》
2.ISO15379:2018《谐振腔法介质损耗测量规程》
3.GB/T12636-2021《微波介质材料复介电常数测试方法》
4.IEC61189-3-719:2020《高频电路材料传输线参数测试》
5.GB/T17626.21-2023《电磁兼容横电磁波室性能验证》

检测设备

1.KeysightN5224B矢量网络分析仪：10MHz-43.5GHz频段S参数测量
2.Agilent85072A谐振腔法测试系统：Q值测量精度0.5%
3.Rohde&SchwarzZVA67四端口网络分析仪：支持多模同步激励分析
3.AnritsuMT2000C材料测试夹具：频率覆盖100MHz-20GHz
4.TSSpaceTEMCellTC-1000：横电磁波室场均匀性0.5dB
5.MegiqLS128探针台：晶圆级材料特性测试平台
6.SPEAGDAK-12自由空间法测试系统：非接触式毫米波测量
7.NSI-MI近场扫描系统NS2000：三维场分布成像分辨率0.1mm
8.CSTStudioSuite电磁仿真软件：模式特性预分析工具

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.