半导电性检测

检测项目

1.电导率测试：测量范围110⁻⁸~110S/cm，精度2%
2.载流子浓度测定：灵敏度≥110cm⁻
3.迁移率分析：温度范围77K~400K
4.禁带宽度测量：光谱分辨率≤0.01eV
5.霍尔系数测试：磁场强度0~2T

检测范围

1.半导体单晶材料（硅/锗/砷化镓）
2.高分子复合导电材料
3.金属氧化物半导体薄膜
4.纳米结构半导体器件
5.光伏电池功能层材料

检测方法

1.ASTMF76-08(2020)半导体材料电阻率测试标准
2.ISO1853:2018导电橡胶体积电阻测定法
3.GB/T1551-2021硅单晶电阻率测定方法
4.IEC62631-3-1:2016介电性能测试规范
5.GB/T13388-2017霍尔效应测量技术规程

检测设备

1.KDY-1型四探针电阻率测试仪：测量精度0.5%，支持高温真空环境
2.HMS-3000霍尔效应测试系统：配备1T超导磁体及低温恒温器
3.AgilentB1500A半导体参数分析仪：支持IV/CV/脉冲特性测试
4.JandelRM3000+四探针台：空间分辨率达50μm
5.LakeShore8400系列霍尔测量系统：温度控制范围4K~325K
6.ThermoScientificNicoletiS50傅里叶红外光谱仪：用于禁带宽度分析
7.KeysightE4990A阻抗分析仪：频率范围20Hz~120MHz
8.OxfordInstrumentsOptistatCF低温恒温器：最低温度可达3K
9.Keithley2450源表：支持脉冲模式下的高精度电流测量
10.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶体结构表征专用设备

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.