体像蔑视检测

检测项目

1.表面粗糙度（Sa）：量化0.01-100μm范围内的三维算术平均高度偏差
2.轮廓峰谷高度（Sz）：测量0.1-800μm区间内的最大轮廓深度
3.波纹度（Wt）：分析0.8-50mm波长范围内的周期性起伏特征
4.形状公差（FormError）：测试平面度/圆度偏差0.1-500μm
5.微观缺陷密度：统计每平方毫米内＞2μm的凹坑/凸起数量

检测范围

1.金属精密加工件（车削/铣削/磨削表面）
2.光学镜片及镀膜基材
3.注塑成型高分子制品
4.半导体晶圆切割面
5.增材制造金属层积结构

检测方法

1.接触式测量：GB/T6062-2017轮廓仪法（半径2μm探针）
2.白光干涉法：ISO25178-604非接触三维形貌重建
3.激光共聚焦：ASTME2847表面纹理表征规程
4.相位偏移干涉：GB/T29531-2013纳米级精度测量
5.X射线断层扫描：ISO15708三维内部结构分析

检测设备

1.BrukerContourGT-K1：白光干涉三维形貌仪（0.1nm垂直分辨率）
2.ZeissO-Inspect543：多传感器复合测量机（CT+光学）
3.MitutoyoSJ-410：接触式轮廓仪（16mm量程）
4.OlympusLEXTOLS5000：激光共聚焦显微镜（120nm横向分辨率）
5.KeyenceVR-6000：高速三维扫描系统（10μm@1m/min）
6.TaylorHobsonPGIDimension：大行程轮廓仪（350mm测量长度）
7.NikonXTH225：工业CT系统（3μm体素分辨率）
8.AliconaInfiniteFocusG5：变焦光学三维测量仪（10x-200x自动切换）
9.MarSurfLD260：气浮导轨式粗糙度仪（0.8mm测试长度）
10.SensofarSneox：三合一光学轮廓仪（干涉/共焦/聚焦变异技术）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.