向列态相检测

检测项目

1.双折射率（Δn）：测量范围0.05-0.30@589nm波长
2.相变温度（T_NI）：精度0.1℃，区间-20℃~300℃
3.取向有序度（S）：计算值0.6-0.9
4.弹性常数（K₁₁/K₂₂/K₃₃）：量级10^-12-10^-11N
5.介电各向异性（Δε）：频率1kHz-1MHz下测试

检测范围

1.向列型液晶单体及混合物（如5CB、E7体系）
2.溶致液晶体系（纤维素/水溶液）
3.高分子液晶复合材料（PLCs）
4.光电显示器件（LCD面板取向层）
5.智能调光薄膜（PDLC材料）

检测方法

1.ASTME313-20偏振法测定双折射率
2.ISO11357-1差示扫描量热法测相变温度
3.GB/T23461-2009液晶材料介电性能测试规程
4.JISK7152-2锥光偏振显微术分析取向缺陷
5.GB/T41549-2022X射线衍射法定量有序度参数

检测设备

1.OlympusBX53-P偏光显微镜：配备U-CTB偏振组件及LinkamLTS420热台
2.PerkinElmerDSC8500差示扫描量热仪：温度分辨率0.01℃
3.AntonPaarMCR302流变仪：配置光电耦合测量单元
4.Agilent4294A阻抗分析仪：频率范围40Hz-110MHz
5.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备低温样品台及二维探测器
6.HindsInstrumentsExicor双折射测量系统：波长覆盖400-1600nm
7.InstecHCS621V热台控制系统：控温精度0.02℃
8.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：空间分辨率1μm
9.LeicaDVM6数字体视显微镜：3D表面形貌重构功能
10.KeysightB2901A精密源表：电流分辨率10fA

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.