指数式时基检测

检测项目

1.时间常数测量：范围0.1μs-100s，分辨率0.05%

2.频率响应分析：带宽DC-10MHz，线性度误差≤0.3dB

3.相位偏移检测：角度分辨率0.01，测量范围180

4.温度漂移系数：温控范围-55℃~+150℃，灵敏度0.1ppm/℃

5.动态非线性度：最大输入信号10V，THD≤0.005%

检测范围

1.高频电路基板材料：FR-4、RogersRO4003C等高频层压板

2.MEMS传感器：加速度计、陀螺仪等微机电系统器件

3.功率半导体模块：IGBT、SiCMOSFET等功率器件封装体

4.储能介质材料：超级电容器电极材料、锂电隔膜

5.精密时控元件：石英晶体振荡器、原子钟核心组件

检测方法

1.ASTMD3380-18：介电材料时域反射测量标准

2.ISO16850:2016机械冲击试验中时间基准验证方法

3.GB/T17626.4-2018电磁兼容快速瞬变脉冲群抗扰度试验

4.IEC60749-27:2006半导体器件高温存储寿命试验

5.GB/T2423.22-2012温度变化试验中时基校准规范

检测设备

1.KeysightInfiniiumUXR0134A：110GHz实时示波器，支持ps级时间解析

2.TektronixAFG31000系列：任意波形发生器，时间抖动＜500fs

3.Chroma19032-C：高精度LCR测试仪，时基精度0.002%

4.Fluke8588A参考级万用表：8.5位分辨率时间间隔测量功能

5.AgilentN9020BMXA频谱分析仪：160MHz实时带宽相位噪声分析

6.ESPECSTZ-120温箱：0.01℃/min温度变化率控制

7.OmicronLabBode100：10MHz频响分析仪支持ns级延迟测量

8.NIPXIe-5171R高速采集卡：1GS/s采样率时间基准同步模块

9.Rohde&SchwarzRTO2044示波器：16bit垂直分辨率时基校正系统

10.Keithley2606B源表：100nA/100μV精密时变信号输出能力

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.