一硫化二钛检测

检测项目

1.化学成分分析：测定硫钛原子比（目标值1:20.05）、杂质元素含量（Fe≤0.03%、Al≤0.02%、Si≤0.01%）
2.晶体结构表征：层间距测量（基准值0.570.02nm）、晶格畸变度（≤1.5%）
3.粒度分布测试：D50粒径控制（2-5μm）、粒径分散指数（PDI≤0.25）
4.密度测定：振实密度（≥3.2g/cm）、理论密度偏差（0.05g/cm）
5.热稳定性测试：热分解温度（≥450℃）、氧化起始温度（≥300℃）

检测范围

1.半导体材料：薄膜晶体管用TiS₂靶材
2.涂层材料：高温润滑涂层复合粉末
3.催化剂载体：加氢脱硫催化剂基材
4.电池材料：锂离子电池正极前驱体
5.陶瓷复合材料：耐磨陶瓷增强相原料

检测方法

1.ASTME1584-17《硫元素测定-燃烧红外吸收法》
2.ISO20203:2005《X射线衍射定量相分析》
3.GB/T19077-2016《粒度分布-激光衍射法》
4.GB/T13301-2019《金属粉末振实密度测定》
5.ISO11358-1:2022《塑料-热重分析法测定分解温度》
6.GB/T4340.1-2009《金属维氏硬度试验》
7.ASTME112-13《平均晶粒度测定》

检测设备

1.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线衍射仪：晶体结构分析与相含量测定
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：纳米至毫米级颗粒分布测试
3.NetzschSTA449F5同步热分析仪：TG-DSC联用热稳定性测试
4.Agilent7900ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪：痕量元素定量分析
5.QuantachromeUltrapyc5000全自动真密度仪：氦气置换法密度测量
6.HitachiSU8010场发射扫描电镜：微观形貌观察及EDS成分映射
7.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪：氧化行为研究
8.MicromeriticsAutoPoreV9600压汞仪：孔隙率与孔径分布测定
9.BrukerD8ADVANCEX射线荧光光谱仪：主量元素快速筛查
10.AntonPaarLitesizer500纳米粒度电位仪：Zeta电位及胶体稳定性测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.