稀缺有色金属检测

检测项目

1.元素成分分析：采用ICP-OES/MS测定铟（In）、锗（Ge）、镓（Ga）等主量元素含量（精度0.01%），同步检测Fe、Ni等14种杂质元素（检出限0.1ppm）
2.纯度测定：高纯铟（≥99.999%）GDMS痕量杂质分析（ppb级），符合SEMIC3.45标准
3.氧氮氢含量：惰性气体熔融法测定Ta/Nb合金中O≤50ppm、N≤20ppm、H≤2ppm
4.物理性能测试：维氏硬度HV0.2（载荷200gf）、延伸率δ≥15%（ASTME8标准试样）
5.微观结构分析：EBSD晶粒度测定（分辨率0.1μm）、TEM位错密度（10^8/cm量级）

检测范围

1.稀土金属材料：钪铝合金（Sc-Al）、镝铁合金（DyFe₂）等永磁体原料
2.铂族金属制品：钌靶材（Ru≥99.95%）、铱坩埚（Ir-0.3%Zr）
3.铌钽深加工材：超导NbTi线材（Φ0.5mm0.01mm）、Ta箔（厚度10μm）
4.锂电关键材料：六氟磷酸锂（LiPF₆）中Co/Mn/Ni杂质控制
5.高纯金属靶材：ITO靶材（In₂O₃:SnO₂=90:10）、钼溅射靶材（Mo≥99.995%）

检测方法

1.ASTME1479-16：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯金属
2.ISO18114:2021：二次离子质谱法(SIMS)表面杂质分析
3.GB/T17472-2020：铟化学分析方法通则
4.GB/T15076.12-2017：钽铌合金氧量测定规程
5.JISH1697:2018：锗单晶载流子浓度四探针法
6.ASTMF3091-17：薄膜材料X射线衍射物相分析

检测设备

1.ThermoFisheriCAPPROXICP-OES：波长范围166-847nm，RSD＜0.5%
2.Agilent8900ICP-MS/MS：质量数范围2-270amu，检出限0.01ppt
3.BrukerD8ADVANCEXRD：Cu靶Kα辐射（λ=1.5406），角度精度0.0001
4.PerkinElmerPinAAcle900TAAS：火焰/石墨炉双模式，自动稀释比1:100
5.LECOONH836氧氮氢分析仪：脉冲加热温度3000℃，最小样品量0.02g
6.ZEISSGeminiSEM500场发射电镜：分辨率0.6nm@15kV，EDS能谱仪
7.ShimadzuHMV-G21显微硬度计：试验力10gf-2kgf，光学系统500
8.MTSCriterion万能试验机：最大载荷100kN，位移分辨率0.001mm
9.ElionixERA-8800FE俄歇谱仪：空间分辨率8nm，深度剖析速率10nm/min
10.HoribaGD-Profiler2辉光放电质谱仪：射频功率50W，溅射速率1μm/min

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.