检测项目
1.纯度测定:≥99.995%(4N5级),痕量杂质元素(Pb、Cd、Zn等)≤5ppm
2.密度测试:7.310.05g/cm(25℃恒温环境)
3.拉伸强度:10-15MPa(直径0.5-2.0mm试样)
4.维氏硬度:0.8-1.2HV(载荷200gf)
5.电阻率:8.370.05μΩcm(20℃标准值)
检测范围
1.半导体键合用高纯铟丝(直径0.025-0.5mm)
2.低温焊料铟基合金丝(In52Sn48/In97Ag3)
3.真空镀膜用超细铟丝(直径≤0.1mm)
4.热界面材料复合铟丝(石墨/铜基复合材料)
5.溅射靶材原料铟丝(氧含量≤50ppm)
检测方法
1.ASTME1473-16电感耦合等离子体原子发射光谱法(杂质元素定量)
2.ISO2738:1999烧结金属材料密度测定法
3.GB/T4325-2013金属材料维氏硬度试验
4.GB/T228.1-2021金属材料拉伸试验规程
5.IEC60468:1974金属材料电阻率测量方法
检测设备
1.PerkinElmerOptima8300ICP-OES光谱仪(痕量元素分析)
2.MettlerToledoXPE205电子天平(精度0.01mg)
3.Instron5967万能材料试验机(载荷范围0-50kN)
4.ZwickRoellZHV30显微硬度计(光学放大400倍)
5.LinselsLS200低温恒温箱(-70℃~300℃温控)
6.Agilent34420A纳伏/微欧表(分辨率1nΩ)
7.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(晶相结构分析)
8.EltraONH-2000氧氮氢分析仪(气体含量测定)
9.KeyenceVHX-7000数码显微镜(表面缺陷观测)
10.NetzschSTA449F3同步热分析仪(熔点测定)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。