可擦除可编程只读存储器检测

检测项目

1.数据保持能力：在85℃高温环境下测试数据保留时间≥10年
2.擦写次数循环：验证擦除/编程次数≥10^5次后功能稳定性
3.工作电压范围：标称电压10%波动下的读写操作容差
4.温度特性测试：-40℃至+125℃全温域功能验证
5.编程/擦除时间：单字节编程时间≤100μs，整片擦除时间≤20ms

检测范围

1.UV-EPROM（紫外线擦除型）
2.EEPROM（电可擦除型）
3.OTPEPROM（一次性编程型）
4.不同封装形式（DIP32、PLCC44、TSOP48）
5.存储容量分级产品（64Kb至4Mb）
6.工业控制模块内置存储器
7.汽车电子ECU存储单元

检测方法

1.ASTMF1572-08(2020)：非易失性存储器耐久性测试标准
2.ISO11452-8:2015：汽车电子元件环境试验方法
3.GB/T17574.1-2021：半导体器件通用规范第1部分
4.GB/T4937-2018：半导体器件机械和气候试验方法
5.JEDECJESD22-A117E：数据保持能力加速测试标准
6.IEC60749-25:2021：半导体器件温度循环试验

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：执行DC/AC特性测试
2.ThermoStreamT-2600温度冲击试验箱：实现-65℃~+150℃快速温变
3.AdvantestT5371存储器测试系统：支持并行多芯片功能验证
4.ESPECSH-261环境试验箱：完成85℃/85%RH高温高湿试验
5.Chroma3380P编程器：精确控制编程电压（12.5V0.25V）
6.UV-ECU-300紫外线擦除装置：提供15mW/cm@365nm辐照强度
7.TektronixDPO7054C示波器：捕捉ns级时序信号波形
8.HiokiIM3536LCR表：测量输入/输出阻抗特性
9.Fluke8846A精密数字万用表：校验基准电压源精度
10.XJTAG边界扫描测试仪：进行PCB级互联缺陷诊断

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.