1.膜层厚度:测量范围50nm-50μm,精度1.5%,采用非破坏性测量2.附着力强度:划痕法测试临界载荷(Lc值),压头半径200μm3.成分分析:EDS能谱元素检测精度0.1at%,XPS深度分辨率≤5nm4.表面粗糙度:Ra值测量范围0.01-10μm,扫描长度4mm5.硬度测试:纳米压痕法载荷范围0.1-500mN,压入深度分辨率0.1nm
1.金属镀层:钛/铝/铜基合金镀层(厚度≤20μm)2.半导体薄膜:氮化硅/氧化铪介电薄膜(厚度50-200nm)3.光学涂层:ITO透明导电膜(方阻5-100Ω/□)4.耐磨涂层:类金刚石碳膜(DLC)硬度≥20GPa5.医疗植入物涂层:羟基磷灰石生物活性涂层(Ca/P比1.670.05)
1.ASTMB568-18用X射线光谱法测量涂层厚度2.ISO26423:2016CVD/PVD硬质薄膜划痕试验法3.GB/T17722-2014金属覆盖层表面粗糙度测量方法4.ASTME1078-14扫描电镜能谱成分分析标准5.GB/T4340.1-2009金属材料维氏硬度试验6.ISO14577-1:2015仪器化纳米压痕硬度测试
1.BrukerDektakXT台阶仪:垂直分辨率0.1,XYZ自动平台2.AntonPaarRevetest划痕仪:最大载荷50N,声发射监测模块3.ZEISSSigma500场发射电镜:分辨率0.8nm@15kV,EDS探测器4.KLATencorP-7轮廓仪:12mm量程,0.75μm半径探针5.FischerscopeHM2000显微硬度计:0.01-2000mN力值范围6.ThermoScientificK-AlphaXPS:单色化AlKα光源(1486.6eV)7.RigakuSmartLabXRD:Cu靶旋转阳极,平行光路系统8.Agilent5500AFM:ScanAsyst模式分辨率0.2nm9.ShimadzuEPMA-8050G电子探针:波长色散谱仪(WDS)10.HysitronTI950纳米压痕仪:动态模量测量精度3%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书
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1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。