狭缝摄谱仪检测

检测项目

1.波长精度校准：测量范围200-1000nm，误差≤0.02nm
2.光谱分辨率验证：半峰全宽(FWHM)≤0.05nm@Hg546.07nm
3.狭缝宽度标定：机械宽度0.01-2mm可调，重复性误差＜1μm
4.光通量均匀性测试：视场范围内光强波动＜3%
5.杂散光抑制率：在特征峰10nm处杂散光强度＜0.05%

检测范围

1.金属材料：铝合金表面氧化膜厚度分析（50-500nm）
2.半导体晶圆：外延层掺杂浓度测量（1E15-1E20atoms/cm）
3.光学薄膜：多层镀膜折射率分布测定（n=1.38-2.35）
4.荧光材料：发射光谱半宽值测定（300-800nm）
5.环境样品：水体重金属元素痕量检测（ppb级）

检测方法

1.ASTME275-08(2017)：光谱仪器性能描述与测试规程
2.ISO15470:2017：表面化学分析-X射线光电子能谱仪能量标定
3.GB/T32211-2015：光谱仪器通用规范
4.ISO21258:2010：固定源排放-傅里叶变换红外法测定气态污染物
5.GB/T36226-2018：表面化学分析-X射线光电子能谱实验参数报告指南

检测设备

1.OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率0.035nm
2.ShimadzuUV-3600Plus分光光度计：双单色器系统，杂散光≤0.00005%
3.PerkinElmerLambda1050+紫外可见近红外分光光度计：波长精度0.08nm
4.HoribaiHR550成像光谱仪：焦长550mm，线色散率0.27nm/mm@300nm
5.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶变换红外光谱仪：分辨率可达0.06cm⁻
6.AgilentCary7000全能型分光光度计：积分球附件支持绝对反射率测量
7.AndorShamrockSR-500i光谱仪：三光栅塔轮系统覆盖190-5000nm
8.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：DTGS检测器信噪比＞50,000:1
9.JYHoribaTriax550三光栅单色仪：焦距550mm，杂散光抑制比10⁻10
10.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO光谱仪：2048像素CMOS阵列探测器

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.