1.化学成分分析:Ce含量(≥99.5%)、N/Ce摩尔比(1.00.05)、杂质元素(Fe≤0.01%、Si≤0.005%)2.晶体结构表征:晶胞参数(a=5.010.02)、结晶度(≥95%)、相纯度(α相占比≥98%)3.粒度分布测试:D10≤0.8μm、D50=1.2-1.5μm、D90≤2.0μm4.氧含量测定:总氧量≤500ppm、表面吸附氧≤200ppm5.表面形貌分析:表面粗糙度Ra≤50nm、孔隙率≤0.5%
1.高纯氮化铈粉末(3N/4N级)2.磁控溅射用氮化铈靶材(Φ≤300mm)3.氮化铈基复合陶瓷材料(Al₂O₃-CeN体系)4.半导体用CVD前驱体(CeN薄膜沉积材料)5.核反应堆中子吸收材料(CeN-SiC复合材料)
1.ASTME3061-17电感耦合等离子体发射光谱法测定稀土元素2.ISO20203:2005X射线衍射法定量分析晶体结构3.GB/T13390-2008激光粒度分析法测定粉末粒径分布4.GB/T11261-2016氧氮氢分析仪测定氧含量5.ISO21363:2020透射电镜纳米尺度结构表征6.ASTMF1526-21辉光放电质谱法表面杂质分析
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:θ/θ测角仪,CuKα辐射源(λ=1.5406)2.ThermoScientificiCAPPROICP-OES:双CID检测器,波长范围166-847nm3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:干湿法双模测量,量程0.01-3500μm4.BrukerQuantax200扫描电镜:场发射电子枪,分辨率1nm@15kV5.HoribaEMIA-920V氧氮分析仪:脉冲加热炉温2300℃,检测限0.1ppm6.Agilent8900三重四极杆ICP-MS:质量数范围3-270amu,检出限<0.1ppt7.NetzschSTA449F3同步热分析仪:TG-DSC联用精度0.1μg8.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:Z轴分辨率0.01nm9.PerkinElmerLambda950紫外分光光度计:波长精度0.08nm10.ShimadzuUV-2600i傅里叶红外光谱仪:分辨率0.25cm⁻
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
其他证书详情(可咨询在线工程师):
荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。