检测项目
1.分辨率测试:测量系统最小可识别特征尺寸(0.1-10nm范围)
2.几何畸变率:测试图像边缘变形程度(要求<1.5%)
3.灰度响应线性度:验证信号强度与灰度值对应关系(偏差<3%)
4.动态范围测试:测定系统最大可识别对比度(≥70dB)
5.噪声水平分析:量化本底噪声强度(≤0.5%RMS)
检测范围
1.半导体元件:晶圆缺陷检测(线宽≥5nm)
2.金属材料:断口形貌分析(放大倍率1000X-50000X)
3.生物样本:细胞超微结构观测(加速电压≤5kV)
4.高分子材料:聚合物相态分布表征(工作距离2-10mm)
5.光学薄膜:镀层厚度测量(精度2nm)
检测方法
1.ASTME986-04:扫描电镜性能表征标准流程
2.ISO16700:2016:微束分析校准规范
3.GB/T27788-2020:显微图像清晰度评价方法
4.ISO21363:2020:纳米颗粒尺寸测量技术规范
5.GB/T35088-2018:扫描电镜联用能谱仪检定规程
检测设备
1.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:配备二次电子/背散射双探测器
2.HitachiSU8200冷场发射电镜:支持0.7nm@15kV分辨率
3.ThermoScientificPrismaEDAX能谱仪:元素分析范围B-U
4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:Z轴分辨率0.1nm
5.KeyenceVHX-7000数字显微镜:20-6000倍连续变倍系统
6.OlympusDSX1000光学数码显微镜:景深合成功能
7.JEOLJEM-ARM300F球差校正透射电镜:空间分辨率0.08nm
8.LeicaEMACE600镀膜仪:临界点干燥处理模块
9.GatanMonoCL4阴极荧光谱仪:波长范围200-1700nm
10.FEIQuanta650FEG环境扫描电镜:最大样品尺寸150mm
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。