检测项目
1.共晶点温度测定:精度0.5℃,测量范围-50~600℃
2.组分比例分析:X射线荧光光谱法(XRF),检出限0.1wt%
3.相变热测定:差示扫描量热法(DSC),灵敏度0.1μW
4.微观结构观测:扫描电镜(SEM)分辨率0.1μm
5.杂质含量检测:电感耦合等离子体光谱(ICP-OES),检出限1ppm
检测范围
1.金属合金体系:Al-Si、Pb-Sn等二元合金
2.半导体材料:InSb、Bi2Te3基热电材料
3.有机晶体:樟脑-萘等低共熔混合物
4.无机盐类:KNO3-NaNO3熔盐体系
5.药物共晶:布洛芬-烟酰胺等药用晶体
检测方法
ASTME794:2018热分析标准测试方法
ISO11357-3:2018塑料-DSC法测定熔融温度
GB/T19466.3-2004塑料差示扫描量热法(DSC)
GB/T6425-2008差热分析方法通则
JISK7121:2012热分析通则
检测设备
1.PerkinElmerDSC8500:温度精度0.1℃,量热精度0.2%
2.HitachiSU5000场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV
3.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES:波长范围166-847nm
4.RigakuZSXPrimusIVXRF:元素范围Be-U,检出限10ppm
5.MettlerToledoTGA/DSC3+:最大称重30g,灵敏度0.1μg
6.BrukerD8ADVANCEXRD:角度精度0.0001
7.NetzschLFA467HyperFlash:导热系数测量范围0.1-2000W/mK
8.MalvernMastersizer3000:粒径测量范围0.01-3500μm
9.Agilent1260InfinityHPLC:压力范围0-600bar
10.ShimadzuUV-2600i分光光度计:波长精度0.1nm
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。