检测项目
1.纯度测定:Bi2O3含量≥99.9%,采用差减法计算非挥发性杂质总量
2.粒径分布:D50值控制在0.5-10μm范围,跨度系数≤1.2
3.晶体结构:α相/β相比例测定(误差0.5%),晶胞参数a=5.8450.003
4.杂质元素含量:As≤5ppm、Pb≤10ppm、Cd≤2ppm(ICP-MS定量限0.01ppm)
5.热稳定性:TG-DSC分析失重率≤0.5%(25-800℃升温速率10℃/min)
检测范围
1.电子陶瓷材料:压敏电阻器用Bi2O3>-ZnO系复合粉体
2.光催化剂材料:钒酸铋(BiVO4)前驱体原料
3.医药中间体:放射性屏蔽材料Bi2O3>-B2O3玻璃体系
4.玻璃添加剂:光学玻璃折射率调节剂(Bi含量12-25wt%)
5.高温润滑剂:纳米氧化铋改性复合润滑材料(粒径≤200nm)
检测方法
1.GB/T1600-2018《工业氧化铋化学分析方法》规定EDTA络合滴定法测定主含量
2.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》规范粒径分布测试流程
3.ASTME1941-10(2021)《X射线粉末衍射定量相分析标准指南》
4.GB/T23942-2021《化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
5.JISK0133:2022《热重-差热同步分析装置通用规则》设定热分析参数
检测设备
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备HyPix-3000探测器,角度精度0.0001
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm,重复性误差<1%
3.PerkinElmerOptima8300ICP-OES:轴向观测模式,检出限低至ppb级
4.NetzschSTA449F5同步热分析仪:TG分辨率0.1μg,DSC噪声水平<1μW
5.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪:Rh靶材,可测元素范围Na-U
6.Agilent7900ICP-MS:质量数范围2-260amu,灵敏度>5107cps/ppm
7.BrukerD8ADVANCE衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=1.5406),扫描速度0.01-100/min
8.MettlerToledoTGA/DSC3+:最大载重30g,温度精度0.1℃
9.HoribaLA-960纳米粒度仪:动态光散射模式测量1-10000nm颗粒
10.ThermoScientificiCAPRQMS:MS/MS模式消除质谱干扰
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。