检测项目
1.空间频率响应(SFR)测量:0.1-200lp/mm范围内MTF曲线分析
2.有效像素区域界定:5%精度下的有效成像面积校准
3.边缘扩散函数(ESF)测试:0.01像素级位移分辨率验证
4.线性相位响应验证:0-360相位偏移量误差≤0.5%
5.动态范围测试:10^4:1照度条件下的信噪比分布
6.畸变率测定:径向/切向畸变误差≤0.03%
7.量子效率分析:400-1100nm光谱响应度标定
8.暗电流噪声检测:30分钟积分时间下的本底噪声谱
9.像面照度均匀性:中心与边缘照度差≤3%
10.调制传递函数稳定性:连续工作24小时MTF衰减≤1.5%
检测范围
1.CMOS/CCD图像传感器晶圆
2.红外焦平面阵列探测器
3.微透镜阵列光学组件
4.工业级线阵扫描模组
5.医用X射线平板探测器
6.天文观测CCD相机系统
7.自动驾驶激光雷达接收单元
8.航天遥感多光谱传感器
9.显微成像光电倍增管组件
10.光刻机对准传感器模块
检测方法
1.ISO12233:2017摄影电子成像系统空间频率响应测量标准
2.ASTME259-20成像系统几何畸变测定标准方法
3.GB/T29298-2012数字照相机光电转换函数测量方法
4.IEC62676-5:2014视频监控摄像机动态范围测试规范
5.ISO15739:2013图像噪声与信噪比测量技术规程
6.GB/T34990-2017红外焦平面阵列参数测试方法
7.ASTMF1248-16光学系统调制传递函数测试规程
8.ISO9039:2008光学系统畸变测定通用方法
9.GB/T26594-2011光电探测器量子效率测量规范
10.IEC61966-4多媒体设备色彩测量与管理标准
检测设备
1.HR-IM3000高分辨率成像分析系统:支持0.5μm级MTF测量精度
2.LS-9000激光干涉仪:波长稳定性0.001nm的波前分析设备
3.SCP-880光谱响应测试平台:400-1700nm宽谱段量子效率测量
4.DTS-6A动态测试光源系统:10^-6~10^5lux照度连续可调光源
5.NVA-2000噪声振动分析仪:0.1Hz-100kHz频段本底噪声采集
6.TEC-5000温控测试箱:-50℃~150℃环境模拟测试舱体
7.OMS-HD光学机械扫描台:0.1μm定位精度的六轴运动平台
8.FPA-3K焦平面阵列测试仪:支持20482048像素级并行检测
9.LMD-360激光微位移装置:纳米级位移量校准基准系统
10.HSI-880高光谱成像仪:400-2500nm连续光谱采集装置
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。