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纳米尺寸检测

原创
关键字: 纳米尺寸测试机构,纳米尺寸项目报价,纳米尺寸测试标准
发布时间:2025-06-09 11:43:07
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检测项目

尺寸分布检测:

  • 粒径分析:流体动力学直径(Dh)、多分散指数(PDI≤0.2)(ISO22412:2017)
  • 形貌统计:纵横比分布(AR±0.05)、等效圆直径(CED)
表面形貌分析:
  • 三维形貌重构:表面粗糙度(Ra≤0.3nm)、台阶高度(±0.1nm)
  • 缺陷检测:孔洞密度(≤5个/μm²)、晶界宽度(GBW±0.2nm)
薄膜特性检测:
  • 膜厚测量:单层膜厚(1-100nm±0.5nm)、多层膜界面扩散(≤1.5nm)
  • 应力分析:残余应力(σ±50MPa)、膜基结合力(≥20N)
多孔结构表征:
  • 孔径分布:中值孔径(2-50nm±0.3nm)、孔隙率(Φ±1%)
  • 比表面积:BET比表面积(≥200m²/g,精度±3%)
成分与化学态:
  • 元素分布:面分布分辨率(≤5nm)、线扫描精度(±0.5at%)
  • 化学键合:结合能位移(±0.05eV)、官能团定量(误差≤3%)
晶体结构分析:
  • 晶格参数:晶面间距(d±0.001nm)、晶格畸变(ε≤0.2%)
  • 结晶度:非晶层厚度(≤0.5nm)、单晶取向(Δθ≤0.1°)
力学性能测试:
  • 纳米压痕:弹性模量(E±5GPa)、硬度(H±0.5GPa)
  • 纳米划痕:粘附失效临界载荷(Lc±0.1mN)
光学特性检测:
  • 消光系数:(k±0.01@550nm)、折射率(n±0.002)
  • 量子产率:荧光量子效率(Φ≥90%)
电学性能表征:
  • 薄膜电阻:方阻(Rs±0.1Ω/□)、电阻率(ρ±5%)
  • 介电常数:(ε±0.1@1MHz)
热学性质测试:
  • 热膨胀系数:(CTE±0.1ppm/K)、导热率(κ±5%)

检测范围

1.金属纳米材料:贵金属纳米颗粒(Au/Ag)、合金量子点,重点检测尺寸均匀性及晶格缺陷密度

2.半导体纳米结构:量子点(CdSe/CdTe)、纳米线(Si/Ge),侧重能带测量与界面缺陷分析

3.陶瓷纳米粉末:氧化物(Al₂O₃/ZrO₂)、氮化硅,核心检测团聚度与相纯度

4.高分子纳米复合材料:纳米纤维素、聚合物纳米粒,关键检测分散性及界面结合状态

5.纳米涂层与薄膜:PVD/CVD硬质涂层、光学镀膜,重点测量膜厚梯度与残余应力分布

6.多孔催化材料:分子筛(ZSM-5)、MOFs材料,核心分析孔径分布与活性位点密度

7.二维层状材料:石墨烯、过渡金属硫化物(MoS₂),侧重层数统计与边缘缺陷表征

8.生物医用纳米材料:脂质体、树状大分子,关键检测形貌均一性与表面官能团密度

9.纳米电子器件:纳米线晶体管、量子点存储器,重点测量线宽尺寸及界面扩散层

10.能源纳米材料:锂电正极材料(NCM)、燃料电池催化剂,核心检测离子扩散通道与活性面积

检测方法

国际标准:

  • ISO13321:1996光子相关光谱法测粒径
  • ISO22412:2017动态光散射纳米颗粒分析
  • ISO15971:2022X射线反射法膜厚测量
  • ISO18115-2:2021表面化学分析术语
  • ISO14577-4:2016纳米压痕硬度测试
国家标准:
  • GB/T19619-2022纳米材料术语
  • GB/T3386-2021X射线衍射纳米材料晶格参数测定
  • GB/T36065-2018纳米颗粒尺寸测量方法
  • GB/T37250-2018原子力显微镜纳米薄膜测量
  • GB/T24369-2023金纳米棒光学特性表征
方法差异说明:动态光散射(ISO22412)与激光衍射法(GB/T19077)在亚微米尺度存在粒径偏差;XPS深度剖析(ISO18115)分辨率(5-10nm)低于TOF-SIMS(≤1nm);纳米压痕标准ISO14577-4与GB/T21838.4在压头校准程序存在差异

检测设备

1.高分辨透射电镜:JEOLJEM-ARM300F(点分辨率0.10nm,STEMHAADF分辨率0.08nm)

2.场发射扫描电镜:ZeissGeminiSEM500(分辨率0.6nm@15kV,电子束流稳定性≤0.5%)

3.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描范围90μm,垂直分辨率0.01nm)

4.X射线衍射仪:PANalyticalEmpyrean(最小步进0.0001°,2θ精度±0.005°)

5.动态光散射仪:MalvernZetasizerUltra(检测范围0.3nm-10μm,温度控制±0.1℃)

6.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha+(能量分辨率≤0.5eV,空间分辨率≤7.5μm)

7.椭偏仪:J.A.WoollamM-2000UI(光谱范围190-1700nm,膜厚分辨率0.1Å)

8.纳米压痕仪:KeysightG200(载荷分辨率0.1nN,位移分辨率0.01nm)

9.比表面积分析仪:MicromeriticsASAP2460(孔径分析范围0.35-500nm,真空度≤10μmHg)

10.共聚焦拉曼光谱仪:RenishawinViaQontor(空间分辨率≤300nm,光谱重复性±0.1cm⁻¹)

11.聚焦离子束系统:FEIHeliosG4UX(离子束分辨率2.5nm,束流稳定性≤1%)

12.同步辐射光源:上海光源BL08U线站(能量范围4-22keV,光斑尺寸≤50nm)

13.低温探针台:LakeShoreCRX-6.5K(温度范围4K-625K,定位精度±0.1μm)

14.紫外可见近红外分光光度计:PerkinElmerLambda1050+(波长精度±0.08nm,杂散光≤0.00005%)

15.扫描隧道显微镜:UNISOKUUSM-1600(原子级分辨率,恒流模式稳定性±0.1pA)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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