氧化石墨烯检测

检测项目

层数分布：测量范围1-10层，精度±0.5层（ISO/TS21356）

横向尺寸分布：尺寸范围10nm-50μm，统计方法动态光散射（ISO22412）

厚度分布：原子力显微镜测量，分辨率0.1nm（ASTME2859）

含氧量测定：C/O原子比精度±0.1，X射线光电子能谱分析（ASTME1829）

缺陷密度：拉曼光谱ID/IG比范围0.1-2.0（ISO/DIS21357）

电导率：四探针法测量范围10⁻⁶-10⁴S/m（GB/T3048.3）

热稳定性：热重失重率测试，温度范围室温至1000°C（ISO11358）

分散稳定性：Zeta电位测量范围-100至100mV（ISO13099）

比表面积：BET方法精度±5%（ISO9277）

官能团含量：傅里叶变换红外光谱特征峰识别（ASTME168）

杂质元素含量：电感耦合等离子体质谱检出限1ppb（GB/T20127）

结晶度：X射线衍射峰强度分析（ASTME1426）

表面电荷：电泳迁移率测量范围0.1-100μm·cm/V·s（ISO13099）

机械强度：纳米压痕测试硬度范围0.1-10GPa（ISO14577）

光学性质：紫外-可见光谱吸收系数测量（GB/T31838）

检测范围

纳米增强复合材料：如聚合物基石墨烯复合材料

锂离子电池电极材料：包括阳极和阴极组件

气体传感器元件：用于环境监测设备

光催化降解材料：水处理和空气净化应用

生物医学药物载体：靶向递送系统

抗腐蚀涂料涂层：金属表面防护层

柔性电子薄膜器件：显示屏和电路基材

导电纺织面料：智能服装和可穿戴设备

水处理过滤膜：脱盐和污染物去除膜

超级电容器电极：高能量存储设备

热界面材料：电子散热组件

电磁屏蔽材料：通讯设备防护层

催化剂载体：化学合成反应基材

生物传感器探针：疾病诊断元件

结构增强材料：建筑和航空航天组件

检测方法

透射电子显微镜法：依据ISO/TS21356进行层数和尺寸分析

原子力显微镜法：执行ASTME2859厚度测量

X射线光电子能谱法：采用ASTME1829测定元素组成

拉曼光谱法：符合ISO/DIS21357缺陷测试

热重分析法：参照ISO11358热稳定性测试

四探针电导率测试：依据GB/T3048.3

动态光散射法：用于尺寸分布，按ISO22412

Zeta电位分析法：根据ISO13099分散稳定性测试

BET比表面积测定法：遵循ISO9277

傅里叶变换红外光谱法：执行ASTME168官能团识别

电感耦合等离子体质谱法：用于杂质检测，按GB/T20127

X射线衍射法：结晶度分析依据ASTME1426

电化学阻抗谱法：界面性质测试按GB/T31838

纳米压痕测试法：机械强度测试遵循ISO14577

紫外-可见分光光度法：光学性质测量按GB/T31838

检测设备

JEOLJEM-2100透射电子显微镜：分辨率0.19nm，用于层数和形貌分析

BrukerDimensionIcon原子力显微镜：扫描范围90μm，用于厚度测量

ThermoScientificK-AlphaX射线光电子能谱仪：能量分辨率0.5eV，用于元素分析

RenishawinVia拉曼光谱仪：激光波长532nm，用于缺陷检测

TAInstrumentsQ50热重分析仪：温度精度±0.1°C，用于热稳定性测试

MalvernZetasizerNanoZS：尺寸范围0.3nm-10μm，用于动态光散射和Zeta电位

MicromeriticsASAP2460比表面积分析仪：BET方法，精度高

Keithley2450源测量单元：用于四探针电导率测量

PerkinElmerSpectrumTwo傅里叶变换红外光谱仪：波长范围7800-350cm⁻¹，用于官能团分析

MetrohmAutolabPGSTAT302N电化学工作站：用于阻抗谱测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.