读卡器检测

检测项目

电气性能检测：

• 数据传输速率：≥480Mbps（USB3.0规范）
• 信号噪声比：SNR≥20dB（参照IEC61000-4-6）
• 功耗测试：待机功耗≤0.5W，峰值功耗≤2W

• 插入拔出力：5-15N范围
• 寿命循环：≥10000次插拔循环
• 接口对齐度：偏差≤0.2mm（GB/T2423标准）

• 温度循环：-40°C至+85°C范围
• 湿度测试：95%RH持续48小时

• 辐射发射：≤30dBμV/m（参照CISPR32）
• 静电放电：ESD±8kV接触放电（IEC61000-4-2）

• 绝缘电阻：≥100MΩ（GB4943.1要求）
• 过流保护：触发电流2A阈值

• 卡类型支持：SDHC/microSD兼容性验证
• 操作系统适配：Win/Mac/Linux协议一致性

• 误码率：BER≤10^-12
• 读写一致性：速度偏差≤5%

• 外形公差：±0.1mm偏差
• 表面粗糙度：Ra≤0.8μm（ISO4287）

• 弯曲测试：角度30°循环1000次
• 跌落测试：高度1m冲击验证

• 温升测试：≤40°C环境温升
• 散热效率：热阻≤5°C/W（参照JEDEC标准）

检测范围

1.USBType-C读卡器：高速数据传输设备，检测重点在反向供电能力与协议兼容性

2.SD卡适配器读卡器：多卡槽设计产品，侧重数据完整性测试与物理磨损测试

3.NFC/RFID读卡器：近距离通信装置，检测信号范围与抗干扰性能

4.移动设备内置读卡模块：集成式单元，重点关注功耗优化与热管理

5.工业级读卡器：恶劣环境应用设备，强化环境适应性如振动与湿度测试

6.便携式读卡器：小型化设计，检测机械强度与低功耗特性

7.多协议读卡器：支持多种卡标准，测试协议切换可靠性

8.高速存储读卡器：SSD卡专用设备，检测数据传输速率上限

9.安全认证读卡器：支付系统应用，强化加密测试与安全合规性

10.通用读卡器：基本功能设备，综合性能测试包括电气与机械参数

检测方法

国际标准：

• ISO/IEC10373-6卡片设备电磁特性测试方法
• IEC61000-4-2静电放电抗扰度试验
• CISPR32多媒体设备电磁兼容性要求
• USB-IF规范USB接口电气测试标准
• JEDECJESD22-A104温度循环测试方法

• GB/T17618信息技术设备电磁兼容性限值和测量方法
• GB4943.1信息技术设备安全要求
• GB/T2423电工电子产品环境试验方法
• GB/T18287移动电话用锂离子电池安全要求（应用于读卡器供电部分）
• GB/T26125电子电气产品有害物质限量测试方法

检测设备

1.数字示波器：TektronixMDO3000（带宽100MHz）

2.逻辑分析仪：Keysight16802A（通道数68）

3.网络分析仪：Rohde&SchwarzZNB20（频率范围10MHz-20GHz）

4.信号发生器：SiglentSDG6000X（输出频率1μHz-500MHz）

5.电源供应器：Chroma62000P（输出电压0-60V）

6.温度湿度试验箱：EspecSH-241（温度范围-70°C至+150°C）

7.振动测试台：LabworksET-126（频率范围5-3000Hz）

8.ESD测试仪：EMTestDito（测试电压±30kV）

9.数据误码测试仪：AnritsuMP1800A（速率32Gbps）

10.功耗分析仪：YokogawaWT3000（精度±0.1%）

11.机械寿命测试机：Instron8862（力范围±100kN）

12.显微镜：OlympusBX53（放大倍数50x-1000x）

13.表面粗糙度计：MitutoyoSJ-210（分辨率0.01μm）

14.高低温冲击试验箱：WeissTechnikTSK（温度变化速率15°C/min）

15.射频屏蔽室：ETS-LindgrenModel26（衰减≥100dB）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.