检测项目
显微结构观察：
- 石墨片层尺寸：长度分布（10-500μm范围，参照ISO10143）
- 石墨片层取向：取向角偏差（±5°以内）
- 晶体形貌特征：六方晶系完整性评级（A≥95%）
石墨化度分析：- 石墨化度值：G值测定（0.8-1.0区间，参照ASTMC709）
- 拉曼光谱分析：ID/IG比（≤0.15）
- X射线衍射半宽：FWHM值（≤0.5°）
孔隙率测量：- 总孔隙率：百分比值（1-30%范围）
- 孔径分布：平均孔径（0.1-100μm）
- 开孔闭孔比：开孔率≥70%
杂质含量检测：- 灰分含量：重量百分比（≤0.5wt%）
- 金属杂质浓度：Fe、Si元素含量（≤100ppm）
- 硫杂质测定：总硫量（≤0.02%）
力学性能检测：- 抗压强度：最大值（≥40MPa）
- 弹性模量：标准值（5-20GPa）
- 硬度测试：维氏硬度HV（20-50范围）
热性能分析：- 热导率：室温值（100-400W/m·K）
- 热膨胀系数：线性膨胀（1-5×10^-6/K）
- 热稳定性测试：高温失重率（≤1%/100h）
电性能检测：- 电阻率：体积电阻（5-50μΩ·m）
- 电导率：标准值（2-20×10^5S/m）
- 介电常数：频率依赖性测定
表面特性分析：- 表面粗糙度：Ra值（≤1.0μm）
- 接触角测量：亲水性角度（≥90°）
- 微观缺陷检测：裂纹密度（≤5个/cm²）
化学成分分析：- 碳含量测定：总碳量（≥99.5wt%）
- 氧含量分析：残余氧（≤0.1wt%）
- 氢氮杂质：H、N元素（≤50ppm）
结构缺陷检测：- 夹杂物评级：类型尺寸（参照ISO945）
- 微裂纹分布：长度深度（≤10μm）
- 密度均匀性：偏差值（≤±0.1g/cm³）
检测范围
1.核级石墨块：用于核反应堆慢化剂，检测重点在热稳定性和抗辐射性微观结构变化。
2.电极石墨块：电弧炉电极应用，检测重点在电导率和高电流负载下的显微缺陷。
3.机械密封石墨块：泵阀密封部件，检测重点在耐磨表面特性和低摩擦孔隙控制。
4.热管理石墨块：散热器材料，检测重点在热导率优化和热膨胀晶体取向。
5.航空航天用石墨块：轻量化结构件，检测重点在强度密度比和高温环境显微完整性。
6.电池材料石墨块：锂离子电池阳极，检测重点在电化学活性表面和杂质影响。
7.模具用石墨块：铸造模具应用，检测重点在耐热性尺寸稳定性和微裂纹预防。
8.化工设备石墨块：耐腐蚀部件，检测重点在化学成分纯度和孔隙密封显微特征。
9.结构增强石墨块：复合材料基体，检测重点在界面结合力和石墨片层分布均匀性。
10.特种功能石墨块：中子吸收剂等，检测重点在超高纯度和微观缺陷控制。
检测方法
国际标准：
- ISO10143:2020石墨材料石墨化度测定方法
- ASTMC709-22人造石墨化学成分标准测试
- ISO945:2017铸铁中石墨显微结构评级
国家标准：- GB/T24588-2022石墨材料显微组织检验方法
- GB/T3521-2021石墨化学分析方法
- GB/T21238-2021石墨电极检测规范
方法差异说明：GB/T24588与国际标准ISO10143在石墨化度测试中采用不同X射线源参数；GB标准对孔隙率测量使用压汞法，而ASTM优先气体吸附法；国标GB/T3521与国际ISO在金属杂质检测限值上存在±10ppm精度差异。
检测设备
1.光学显微镜：OlympusBX53M型（放大倍率50-1000x，分辨率0.5μm）
2.扫描电子显微镜：HitachiSU3500型（分辨率3nm，加速电压0.5-30kV）
3.X射线衍射仪：RigakuSmartLab型（角度精度0.001°，波长Cu-Kα）
4.激光导热仪：NetzschLFA467型（温度范围-100-1000°C，精度±3%）
5.万能材料试验机：Instron5985型（载荷范围0.02-300kN，精度±0.5%）
6.孔隙率分析仪：MicromeriticsAutoPoreV型（孔径测量0.005-360μm）
7.拉曼光谱仪：RenishawInVia型（光谱范围200-4000cm⁻¹，分辨率1cm⁻¹）
8.傅里叶变换红外光谱仪：ThermoNicoletiS50型（波数范围4000-400cm⁻¹，检测限0.1%）
9.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon型（分辨率0.1nm，扫描范围90μm）
10.电阻率测试仪：Keithley2450型（测量范围10μΩ-1GΩ，精度±0.1%）
11.热膨胀仪：TAInstrumentsDIL806型（温度范围-150-1600°C，膨胀分辨率0.05μm）
12.硬度计：WilsonVH1102型（载荷0.1-100kgf，硬度范围HV1-3000）
13.表面粗糙度仪：MitutoyoSJ-410型（测量范围350μm，分辨率0.01μm）
14.元素分析仪：ElementarvarioELcube型（检测限0.001%，精度±0.01wt%）
15.密度测定仪：MettlerToledoXS205型（密度范围0-3g/cm³，精度±0.0001g/cm³）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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