检测项目
光学均匀性检测:
- 折射率梯度:最大梯度≤2×10^{-6}cm^{-1}(参照ISO10110-4)
- 双折射测量:最大双折射值≤10nm/cm
- 透射均匀性:局部偏差≤±0.5%
透射性能检测:
- 平均透射率:可见光范围≥90%
- 散射系数:总散射损失<0.001cm^{-1}
- 光谱带宽:400-2500nm透射率变化≤5%
机械强度检测:
- 抗弯强度:三点弯曲强度≥350MPa(参照ASTMC1161)
- 断裂韧性:K_{IC}≥3.5MPa·m^{1/2}
- 硬度检测:维氏硬度≥1500HV
热性能检测:
- 热膨胀系数:室温至1000℃平均值≤8×10^{-6}K^{-1}
- 导热系数:≥10W/(m·K)
- 热稳定性:加热循环失效率≤0.1%
化学稳定性检测:
- 耐酸碱腐蚀:质量损失率≤0.1%(参照ASTMC267)
- 氧化安定性:增重≤0.5mg/cm^{2}
- 湿度抵抗:95%RH下性能变化≤1%
表面质量检测:
- 表面粗糙度:Ra≤0.02μm
- 缺陷密度:每平方厘米≤5个
- 划痕深度:≤100nm
尺寸精度检测:
- 平面度误差:≤λ/10@632.8nm
- 平行度公差:≤30arcsec
- 厚度偏差:±0.005mm
环境适应性检测:
- 热冲击抗力:ΔT≥300℃无裂纹
- 辐射稳定性:伽马辐照后透射衰减≤2%
- 真空性能:真空度10^{-6}Pa下变形≤0.001mm
成分分析检测:
- 元素纯度:主要元素偏差≤±0.1wt%
- 杂质浓度:过渡金属离子<10ppm
- 氧含量:≤50ppm
电学性能检测:
- 介电常数:频率稳定性±0.05
- 电阻率:≥10^{12}Ω·cm
- 击穿电压:≥50kV/mm
检测范围
1.氧化铝透明陶瓷:用于高压光学窗口,检测重点为机械强度和环境稳定性。
2.钇铝石榴石(YAG)透明陶瓷:固体激光增益介质应用,检测重点为散射损失和热透镜效应。
3.尖晶石透明陶瓷:红外光学系统材料,检测重点为红外透射率和热冲击抗力。
4.氧化锆透明陶瓷:生物医学植入物领域,检测重点为表面光洁度和化学惰性。
5.铝酸镁镁透明陶瓷:高温光学组件,检测重点为热膨胀均匀性和透射性能。
6.氮化硅透明陶瓷:极端环境窗口材料,检测重点为热稳定性和机械强度。
7.碳化硅透明陶瓷:半导体设备防护窗,检测重点为导热性和光学均匀性。
8.石榴石结构透明陶瓷:高功率激光应用,检测重点为激光损伤阈值和折射率一致性。
9.氟化物透明陶瓷:紫外光学系统,检测重点为紫外波段透射率和散射特性。
10.复合材料透明陶瓷:多功能光学元件,检测重点为界面均匀性和应力分布。
检测方法
国际标准:
- ISO10110-4光学元件折射率均匀性测试
- ISO13696光学散射特性测量
- ISO14720-1陶瓷粉末化学分析
国家标准:
- GB/T9963-2022透明陶瓷透光率测试方法
- GB/T3074.1-2022陶瓷材料抗弯强度试验方法
- GB/T3810.5-2016陶瓷砖表面质量检验
国际标准ISO10110-4采用干涉法测量折射率梯度,而GB/T9963-2022侧重分光光度法透射率测试,差异在于校准光源和数据处理算法。ISO散射测试基于积分球技术,GB标准则参考类似原理但调整了角度范围。
检测设备
1.激光干涉仪:ZYGOGPI-XP(波长632.8nm,分辨率0.1nm)
2.分光光度计:PerkinElmerLambda1050(波长范围190-3300nm,精度±0.02%)
3.激光散射仪:BrookhavenBI-200SM(角度范围20°-120°,检测限0.0001sr^{-1}cm^{-1})
4.万能材料试验机:INSTRON5967(载荷范围0.02-50kN,精度±0.5%)
5.热膨胀仪:NETZSCHDIL402C(温度范围-150-1600℃,分辨率0.1nm)
6.导热系数仪:LFA467HyperFlash(温度范围-125-2800℃,精度±3%)
7.表面粗糙度仪:TaylorHobsonFormTalysurfi120(垂直分辨率0.01μm)
8.光学显微镜:OlympusBX53M(放大倍率50-1000×,成像分辨率0.5μm)
9.环境试验箱:ESPECPL-3(温度范围-70-150℃,湿度控制10-98%RH)
10.X射线荧光光谱仪:RigakuZSXPrimusIV(元素范围Na-U,精度±0.01%)
11.激光损伤测试仪:CoherentInfinity(脉冲能量0-1J,重复频率1-100Hz)
12.热冲击试验机:定制系统(ΔT范围0-1000℃,冷却速率>100℃/s)
13.原子吸收光谱仪:PerkinElmerPinAAcle900T(检测限ppt级)
14.介电常数测试仪:AgilentE4990A(频率范围1MHz-3GHz,精度±0.1%)
15.电子天平:MettlerToledoXS205(称量精度0.01mg)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。