检测项目
几何精度检测：
- 同心度：允差≤0.5μm（参照ISO1101）
- 圆度：允差≤0.3μm（参照ISO12180）
- 圆柱度：允差≤0.4μm（参照ISO12181）
尺寸测量：- 内孔径：公差±0.5μm（参照ISO286）
- 外径：公差±1.0μm（参照ISO286）
- 长度：公差±0.2mm（参照ISO1101）
表面质量检测：- 表面粗糙度：Ra≤0.05μm（参照ISO4287）
- 划痕检测：无可见缺陷（参照ISO10110）
- 端面垂直度：允差≤0.1°（参照ISO1101）
材料性能检测：- 维氏硬度：≥1500HV（参照ISO6507）
- 抗弯强度：≥800MPa（参照ISO14704）
- 密度：≥6.0g/cm³（参照ISO5017）
光学特性检测：- 折射率：公差±0.001（参照ISO10110）
- 透光率：≥99.5%（参照ISO13468）
- 散射损失：≤0.1dB/cm（参照ISO13696）
热性能检测：- 热膨胀系数：公差±0.5×10⁻⁶/K（参照ISO7991）
- 热稳定性：无开裂（200°C热循环）
电气性能检测：- 绝缘电阻：≥10¹²Ω（参照IEC60695）
- 介电强度：≥15kV/mm（参照IEC60243）
环境耐受性检测：- 耐腐蚀性：无变化（85°C/85%RH，168小时）
- 耐化学性：无侵蚀（酸/碱暴露）
装配兼容性检测：- 插拔力：10-30N（参照IEC61753）
- 配合间隙：允差±2μm
微观结构检测：- 晶粒尺寸：≤1μm（参照ASTME112）
- 孔隙率：≤0.1%（参照ISO5017）
检测范围
1.氧化锆陶瓷插芯：适用于高折射率光纤连接器，重点检测同心度精度和热膨胀系数稳定性
2.氧化铝陶瓷插芯：用于通用电信设备，侧重尺寸公差控制和表面粗糙度测试
3.氮化硅陶瓷插芯：针对高温环境应用，检测抗弯强度和热循环耐受性
4.钛酸锶陶瓷插芯：应用于精密光学仪器，重点测试折射率一致性和散射损失
5.复合陶瓷插芯：含金属掺杂材料，检测微观结构均匀性和电气绝缘性能
6.超细晶陶瓷插芯：用于5G高速传输，侧重晶粒尺寸分析和孔隙率控制
7.低损耗陶瓷插芯：针对长距离光纤，检测透光率和端面垂直度误差
8.耐腐蚀陶瓷插芯：适用于海洋环境，重点进行化学暴露测试和表面完整性检测
9.微型化陶瓷插芯：用于紧凑设备，检测微小孔径公差和装配插拔力
10.生物相容陶瓷插芯：医疗领域应用，测试材料纯度和无毒性指标
检测方法
国际标准：
- ISO1101:2017几何公差规范
- ISO12180:2011圆柱度测量方法
- ISO6507:2018维氏硬度测试
- ISO14704:2016陶瓷抗弯强度试验
- ISO10110:2015光学表面缺陷测试
国家标准：- GB/T1182-2018产品几何技术规范
- GB/T1800-2020极限与配合
- GB/T4340-2009金属维氏硬度试验
- GB/T6569-2006精细陶瓷弯曲强度试验
- GB/T11186-1989光学元件表面质量检验
标准差异包括ISO采用公制单位系统，GB标准在公差范围上更严格；ISO1101允差基准为国际通用，而GB/T1182增加中国特定测试条件。
检测设备
1.激光干涉仪：ZygoVerifireMST（波长632.8nm，精度±0.02μm）
2.三坐标测量机：ZeissCONTURAG2（测量范围700×1000×600mm，精度±1.5μm）
3.圆度测量仪：TaylorHobsonTalyrond585（分辨率0.01μm，转速0.1-10rpm）
4.表面轮廓仪：BrukerDektakXT（扫描范围50mm，垂直分辨率0.1nm）
5.维氏硬度计：WilsonVH1150（载荷1-50kgf，精度±1%）
6.万能材料试验机：Instron5967（载荷范围0.02-30kN，分辨率0.01N）
7.光学显微镜：OlympusBX53M（放大倍数50-1000×，景深10μm）
8.光谱椭偏仪：WoollamM2000（波长范围190-1700nm，角度精度±0.01°）
9.热膨胀仪：NetzschDIL402C（温度范围-150-1600°C，分辨率0.1nm）
10.环境试验箱：WeissWK11-180（温度范围-70-180°C，湿度范围10-98%RH）
11.电气测试仪：Keithley6517B（电阻测量范围10⁶-10¹⁷Ω，电压10V-1kV）
12.插拔力测试机：Mark-10ESM303（力范围0.1-500N，精度±0.1%）
13.扫描电子显微镜：HitachiSU5000（分辨率1nm，加速电压0.5-30kV）
14.密度计：MettlerToledoXS205（称重范围0-80g，精度0.01mg）
15.轮廓投影仪：NikonV-12B（放大倍数10-100×，成像精度±1μm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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荣誉资质
研究院地址
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