CMA资质
CMA资质
cnas资质
cnas资质
cnas资质
cnas资质
高新技术企业证书
高新技术企业证书

硅含量X射线荧光光谱检测

原创
关键字: 硅含量X射线荧光光谱测试案例,硅含量X射线荧光光谱测试范围,硅含量X射线荧光光谱测试周期
发布时间:2025-06-23 18:27:17
最近访问:
阅读:
字体大小: || || || 复原

检测项目

元素定量分析:

  • 硅含量:[检测限≤0.01wt%,RSD≤1.0%(参照ISO9516)
  • 铁含量:[检测范围0.1-99.9wt%,偏差±0.05wt%]
精度控制:
  • 重复性测试:[RSD≤0.8%,连续10次测量]
  • 检测限验证:[LOD≤0.005wt%(参照ASTMD5381)
基体效应校正:
  • 基体匹配校准:[标准样品偏差±0.02wt%]
  • 补偿因子调整:[校正系数0.95-1.05范围]
多元素同步检测:
  • 铝硅比:[比值偏差±0.03(参照GB/T223.79)]
  • 碳硅协同分析:[碳含量≥0.1wt%时硅精度提升]
样品制备要求:
  • 表面平整度:[粗糙度Ra≤0.5μm]
  • 颗粒均匀性:[粒度分布≤50μm筛分]
校准标准:
  • 标准曲线拟合:[R²≥0.999]
  • 空白校正:[背景噪声≤100cps]
仪器性能验证:
  • 稳定性测试:[8小时漂移≤0.5%]
  • 分辨率验证:[能量分辨率≤150eV(参照ISO3497)]
环境适应性:
  • 温度影响:[补偿范围15-30°C,偏差±0.1%]
  • 湿度控制:[RH≤60%时精度不变]
质量控制指标:
  • 检出限确认:[LOD≤0.01wt%(参照ASTME1621)]
  • 精密度测试:[SD≤0.05wt%]
数据处理参数:
  • 峰面积积分:[积分误差±0.2%]
  • 谱线去卷积:[重叠峰分离度≥95%]

检测范围

1.冶金合金:涵盖铝合金、钢合金等,重点检测硅作为强化元素或杂质的含量偏差(±0.02wt%)

2.矿物原料:包括石英、滑石等硅酸盐矿物,侧重主成分硅的定量分析(检测限≤0.1wt%)

3.陶瓷材料:如氧化硅陶瓷,聚焦硅含量与烧结性能的关联(精度要求RSD≤0.5%)

4.电子半导体:硅片、晶圆等,检测高纯硅的痕量杂质(检测限≤1ppm)

5.化工产品:硅胶、硅油等,侧重硅有机化合物中的元素转化分析

6.建筑材料:水泥、玻璃等,重点检测硅酸盐成分的均匀性(偏差±0.1wt%)

7.环境样本:土壤、粉尘等,监测硅作为污染指标的分布(检测范围0.01-50wt%)

8.塑料复合材料:含硅填料聚合物,检测硅填充率与力学性能相关性

9.耐火材料:如硅砖,聚焦硅铝比值对耐热性的影响(比值精度±0.05)

10.食品添加剂:硅基抗结剂等,确保硅含量符合食品安全标准(检测限≤10ppm)

检测方法

国际标准:

  • ISO9516:2021铁矿石中硅含量的X射线荧光光谱测定法
  • ASTMD5381-23涂料中硅成分的X射线荧光光谱分析
  • JISK0119:2020荧光X射线分析方法通则
国家标准:
  • GB/T223.79-2022钢铁及合金中硅含量的测定X射线荧光光谱法
  • GB/T16597-2019冶金产品化学分析X射线荧光光谱法通则
  • GB/T30903-2014无机化工产品中硅含量测定X射线荧光光谱法
国际标准如ISO9516强调基础定量方法,而国家标准如GB/T223.79针对特定材料基体优化校正;ASTM方法侧重样品的预处理差异,GB标准则强化环境适应性要求。

检测设备

1.波长色散X射线荧光光谱仪:RigakuZSXPrimusIV(波长范围0.1-50Å,分辨率≤40eV)

2.能量色散X射线荧光光谱仪:ThermoScientificARLQUANT'X(检测限达0.001wt%,能量分辨率≤150eV)

3.台式XRF分析仪:OlympusVANTA系列(检测速度≤10秒/样,硅精度±0.02wt%)

4.便携式XRF设备:NitonXL5(手持式,适用现场检测,检测范围0.01-100wt%Si)

5.多功能X射线荧光系统:BrukerS8TIGER(真空环境操作,检测限≤0.005wt%)

6.高分辨率光谱仪:PANalyticalAxios(最大功率4kW,分辨率≤20eV)

7.自动样品进样器:SPJianCeROXEPOS(支持60位样品盘,定位精度±0.1mm)

8.X射线管组件:Rh靶X射线管(功率3kW,寿命≥8000小时)

9.探测器系统:硅漂移探测器(计数率≥100kcps,能量范围1-40keV)

10.冷却装置:水冷循环系统(温度控制±0.5°C,确保稳定性)

11.校准标准源:系列认证标准样品(覆盖0-100wt%Si,偏差±0.01wt%)

12.样品制备设备:自动磨抛机(表面处理粗糙度Ra≤0.5μm)

13.数据处理工作站:专用分析软件(支持多元素定量算法)

14.环境控制单元:温湿度稳定器(操作范围10-35°C,RH≤65%)

15.安全屏蔽系统:铅屏蔽罩(辐射泄漏≤0.5μSv/h)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户