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矿样电镜扫描分析

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关键字: 矿样电镜扫描分析测试标准,矿样电镜扫描分析测试方法,矿样电镜扫描分析测试机构
发布时间:2025-06-24 17:46:20
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检测项目

形貌分析:

  • 表面纹理:粗糙度值(Ra≤0.1μm,参照GB/T3505)、颗粒形态指数(球形度≥0.85)
  • 裂缝分布:裂缝密度(个数/mm²)、孔洞体积占比(孔隙率≤30%)
成分分析:
  • 元素含量:Fe、Si浓度(wt%,精度±0.1%,参照ISO15632)
  • 杂质检测:S、P含量(≤0.03wt%)、氧原子百分比(Oat%)
结构分析:
  • 晶体结构:晶格常数偏差(≤0.01Å)、晶粒平均尺寸(μm)
  • 相边界识别:界面角度(°)、缺陷密度(位错/mm²)
矿物相识别:
  • 矿物类型:石英、方解石识别率(≥98%)、相体积分数(±2%)
  • 赋存状态:包裹体分布(单位面积计数)
元素分布:
  • 元素映射:均匀指数(0-1范围)、梯度变化分析(线扫描精度±5%)
  • 浓度剖面:元素扩散系数(cm²/s)
孔隙度测试:
  • 孔径分布:平均孔径(nm)、孔隙连通性指数
  • 比表面积:BET值(m²/g,精度±0.5)
表面化学:
  • 化学键合:XPS峰位移(eV)、氧化状态比率(如Fe²⁺/Fe³⁺±0.1)
  • 吸附层厚度(nm)
电子背散射衍射:
  • 晶体取向:取向差角度(°)、织构强度(极图值)
  • 晶界分析:晶界类型占比(%)
能谱定量:
  • 元素相对误差(≤3%)、检测限(ppm级)
  • 峰背比(≥100)
图像处理:
  • 空间分辨率(nm)、灰度对比度范围(0-255)
  • 噪声水平(信噪比≥20dB)

检测范围

1.铁矿石:检测铁品位及杂质元素Si、P、S浓度,重点测试冶炼适用性和显微结构变化

2.铜矿石:分析铜含量、伴生金、银分布及矿物赋存状态,侧重经济价值测试

3.金矿石:金颗粒粒度分布、包裹体识别及赋存形式鉴别,优化选矿工艺

4.煤矿:测定灰分、挥发分、硫含量及其微观形态,支持燃烧效率分析

5.稀土矿石:稀土元素La、Ce、Nd分布及含量定量,重点矿物相分离检测

6.铝土矿:铝硅比值、杂质Fe、Ti浓度及孔隙结构分析,用于冶金原料测试

7.锌矿石:锌品位、铅铁杂质分布及晶体缺陷检测,提升选矿回收率

8.镍矿石:镍含量、钴伴生元素及硫化矿物相识别,支持冶炼过程优化

9.磷矿石:磷浓度、碳酸盐杂质及表面化学反应分析,专注肥料原料质量控制

10.铀矿石:铀元素分布、放射性同位素浓度及晶格稳定性检测,测试开采安全性

检测方法

国际标准:

  • ISO15632:2021微束分析-能谱仪定量方法
  • ASTME1508-12扫描电镜能谱分析标准
  • ISO16700:2016扫描电镜分辨率校准
国家标准:
  • GB/T17359-2012电子探针显微分析通用技术条件
  • GB/T18873-2008矿物微区分析方法
  • GB/T31576-2015电子背散射衍射分析方法

检测设备

1.扫描电子显微镜:ZEISSGeminiSEM450(分辨率0.8nm,加速电压0.1-30kV)

2.能谱仪:BrukerXFlash6|30(元素范围B-U,检测限1ppm)

3.电子背散射衍射仪:OxfordInstrumentsSymmetry(分辨率0.1μm,角度精度±0.1°)

4.聚焦离子束系统:ThermoScientificHELIOSG5(离子束电流1pA-100nA,束斑直径5nm)

5.X射线光电谱仪:ThermoFisherESCALABXi+(能量分辨率0.45eV,深度分析能力)

6.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描范围100μm,力分辨率10pN)

7.拉曼光谱仪:RenishawinViaQontor(波长532nm,光谱分辨率1cm⁻¹)

8.透射电子显微镜:FEITalosF200X(分辨率0.07nm,放大倍数50-1000k)

9.样品制备系统:LeicaEMACE600(溅射速率2nm/min,真空度<10^{-5}mbar)

10.低温样品台:GatanAlto2500(温度范围-196°C至300°C,稳定性±0.1°C)

11.图像分析软件:ImageJwithplugins(处理速度>1000images/hour,算法精度±1%)

12.数据采集工作站:DellPrecision7960(处理器IntelXeon,内存256GB)

13.真空系统:EdwardsnXDS10i(真空度<10^{-6}mbar,抽速10m³/h)

14.能谱校准标准:NISTSRM610(元素覆盖范围,校准误差≤0.5%)

15.样品涂镀仪:QuorumQ150TES(涂层厚度5nm,均匀性±1nm)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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