电子元件耐霉菌试验

检测项目

霉菌生长测试：

• 覆盖率：百分比测量（≤5%阈值，参照IEC60068-2-10）
• 孢子密度：单位面积孢子计数（个/cm²）
• 生长速率：每日生长增量（mm/day）

• 表面腐蚀：深度测量（μm级）
• 材料失重：百分比损失（≥0.5%临界值）
• 粗糙度变化：Ra值偏差（μm）

• 绝缘电阻：最小值（≥10MΩ）
• 电导率偏差：百分比变化（±5%）
• 接触电阻：稳定性测试（Ω级波动）

• 拉伸强度变化：百分比损失（≥10%临界）
• 硬度变化：维氏硬度值（HV偏移±10）
• 弯曲疲劳：循环次数（≥1000次）

• pH值变化：范围测量（5.5-8.5）
• 腐蚀产物：元素含量分析（wt%）
• 有机酸释放：浓度检测（mg/L）

• 温湿度控制：精度（±0.5℃/±2%RH）
• 暴露时间：标准周期（28天）
• 光照条件：UV强度（W/m²）

• 加速老化：性能保持率（≥90%）
• 循环测试：温湿度交替次数（≥50次）
• 长期稳定性：年故障率计算（%）

• 组合影响：界面腐蚀深度（μm）
• 粘合强度：剥离力（N/mm）
• 热膨胀系数：变化率（%）

• 毒性释放：气体浓度（ppm）
• 生物危害：孢子活性评级
• 可燃性：燃烧速率（mm/min）

• 故障模式分析：分类计数
• MTBF计算：小时数（≥10000h）
• 环境适应性：海拔模拟（m级）

检测范围

1.印刷电路板（PCB）：检测铜层腐蚀深度和绝缘电阻变化，重点测试焊点完整性

2.电子连接器：测试接触点霉菌积累导致的短路风险，侧重引脚电阻稳定性

3.半导体器件：检测封装材料降解对热性能的影响，关注硅片表面霉斑

4.电容器：分析电解质泄漏与霉菌生长的关联，侧重密封性测试

5.电阻器：测试表面霉菌对阻值偏差的影响，重点监控涂层破坏

6.集成电路（IC）：检测引脚腐蚀导致的信号失真，关注封装完整性

7.电线电缆：分析绝缘层霉菌穿透风险，侧重机械强度损失

8.传感器：测试精度偏差与霉菌生长的关系，重点检测敏感元件

9.显示器面板：检测表面霉斑对光学性能的影响，侧重透光率变化

10.电池组件：分析电极腐蚀与容量衰减，关注电解质污染

检测方法

国际标准：

• IEC60068-2-10恒定湿热试验方法
• ISO846塑料材料霉菌生长测试
• ASTMG21合成聚合物材料耐霉菌测定

• GB/T2423.16电工电子产品环境试验方法
• GB/T5170.10湿热试验箱技术条件
• GB/T1720涂层耐霉菌试验方法

检测设备

1.恒温恒湿箱：模型HT-3000（温控范围-40℃至150℃，湿度控制20-98%RH）

2.霉菌培养箱：型号MC-150（湿度控制85-95%RH，温度范围25-35℃）

3.光学显微镜：型号OM-1000X（放大倍数1000x，分辨率0.2μm）

4.电子显微镜：型号SEM-5000（分辨率0.1nm，加速电压30kV）

5.绝缘电阻测试仪：型号IR-10G（测量范围0.1Ω至10GΩ，精度±0.5%）

6.光谱分析仪：型号SA-750（检测限0.001%，元素覆盖范围广）

7.拉力测试机：型号UTM-100（负载范围0.1-100kN，速度控制0.01-500mm/min）

8.pH计：型号PH-01（精度±0.01，温度补偿范围0-100℃）

9.重量分析天平：型号WA-0.0001（精度0.0001g，最大容量200g）

10.环境模拟室：型号ES-500（温湿度波动±0.5℃/±1%RH，容积500L）

11.数据记录仪：型号DL-32（通道数32，采样率1kHz）

12.图像分析软件：型号IA-Pro（霉菌识别精度99%，自动覆盖率计算）

13.腐蚀测试仪：型号CT-200（腐蚀速率测量范围0.001-10mm/year）

14.加速老化箱：型号AA-UV（UV辐射强度0-100W/m²，温控精度±1℃）

15.安全测试设备：型号SE-GC（毒性气体检测限0.1ppm，多气体分析）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.