检测项目
腐蚀性能测试：
- 腐蚀速率：单位时间质量损失（mg/cm²·h，参照ASTMG85）
- 点蚀深度：最大蚀坑深度（μm），表面粗糙度增幅≤20%
- 腐蚀产物分析：氧化物层厚度（nm级），成分偏差（±5wt%）
电气特性变化：- 绝缘电阻下降：初始值下降百分比（≥30%为失效），测试电压500V
- 导通电阻增加：接触点电阻变化率（≤10mΩ，参照IEC60512）
- 介电强度衰减：击穿电压降低值（kV/mm）
机械完整性检测：- 粘接力测试：剥离强度（N/cm，≥5N/cm合格）
- 封装密封性：泄漏率（Pa·m³/s，≤1×10⁻⁶）
- 弯曲疲劳：循环次数至失效（≥1000次）
外观检测：- 表面变色评级：色差ΔE≤2.0（参照ISO105-A02）
- 涂层剥落面积：允许最大值≤1%
- 起泡密度：单位面积气泡数量（个/cm²）
化学成分分析：- 金属离子析出：铜、镍离子浓度（ppm，≤10ppm）
- 焊料腐蚀：锡铅合金失重（mg/cm²）
- 镀层厚度偏差：金层厚度变化（±0.1μm）
环境适应性：- 温度循环影响：电阻漂移（±5%）
- 湿度敏感性：吸湿率（wt%）
- 盐沉降量控制：喷雾浓度（5%NaCl溶液）
失效模式分析：- 电化学迁移：枝晶生长长度（μm）
- 应力腐蚀开裂：裂纹扩展速率（mm/h）
- 微动腐蚀：接触阻抗增幅（mΩ）
寿命预测：- 加速老化因子：时间压缩比（参照MIL-STD-810）
- 失效时间分布：Weibull分布参数
- 可靠性指数：MTBF（小时）
微观结构检验：- 金相组织：晶界腐蚀深度（μm）
- SEM观察：表面形貌变化
- XRD分析：腐蚀相组成
功能测试：- 信号完整性：误码率增加（≤10⁻⁶）
- 功耗变化：静态电流漂移（±5%）
- 开关特性：响应时间延迟（ms）
检测范围
1.印刷电路板（PCB）：涵盖FR-4基材及高TG材料，重点检测铜箔腐蚀、焊盘脱落及绝缘层劣化。
2.电子连接器：包括板对板、线对板类型，侧重接触点腐蚀、插拔力衰减及接触电阻稳定性。
3.半导体器件：如IC芯片、晶体管，检测引线键合腐蚀、封装开裂及电参数漂移。
4.外壳与散热器：铝合金或镀锌钢材质，重点测试表面涂层剥落、导热性能下降及结构强度损失。
5.电线电缆：涵盖绝缘护套材料，检测导体氧化、绝缘电阻变化及机械柔韧性退化。
6.开关与继电器：触点金属材料，侧重接触电阻增加、动作失效及电弧腐蚀影响。
7.传感器元件：如温湿度传感器，检测敏感元件腐蚀、输出信号偏移及校准稳定性。
8.显示组件：包括LCD、OLED屏，重点测试电极腐蚀、亮度衰减及色彩失真。
9.电源模块：如DC-DC转换器，检测散热片腐蚀、效率下降及过载保护失效。
10.被动元件：电阻、电容、电感，侧重端子腐蚀、参数漂移及介质泄漏。
检测方法
国际标准：
- IEC60068-2-11盐雾试验方法
- ASTMB117盐雾腐蚀测试标准
- ISO9227人工大气腐蚀试验
- JISZ2371盐雾试验规程
国家标准：- GB/T2423.17电工电子产品盐雾试验方法
- GB/T10125人造气氛腐蚀试验盐雾试验
- GB/T5170.8环境试验设备检验方法
- GB/T1765漆膜耐湿热测定法
方法差异说明：IEC标准采用连续喷雾模式，测试周期48-96小时；GB标准可选用循环喷雾，并增加温湿度控制要求。ASTMB117规定5%NaCl溶液浓度，而GB/T2423.17允许调整pH值。ISO9227包含中性、酸性盐雾变体，测试参数更严格；JISZ2371侧重海洋环境模拟，喷淋速率不同。
检测设备
1.盐雾试验箱：Q-FOGCCT1100型（温度范围15-50°C，喷雾量1-2ml/80cm²·h）
2.金相显微镜：OLYMPUSBX53M型（放大倍数50-1000X，分辨率0.5μm）
3.绝缘电阻测试仪：HIOKIIR4056型（测量范围0.01MΩ-1000GΩ，精度±2%）
4.四探针电阻仪：KEITHLEY2450型（电流范围1pA-1A，电压分辨率1μV）
5.电子天平：SARTORIUSCPA225D型（量程0-220g，精度0.01mg）
6.表面轮廓仪：BRUKERDektakXT型（垂直分辨率0.1nm，扫描长度100mm）
7.扫描电镜：HITACHISU5000型（放大倍数20-100,000X，EDS元素分析）
8.电化学工作站：GAMRYINTERFACE1010E型（电位范围±10V，电流精度0.1%）
9.恒温恒湿箱：ESPECPL-3KPH型（温度范围-70-150°C，湿度10-98%RH）
10.X射线衍射仪：RIGAKUSmartLab型（角度范围0-160°，分辨率0.01°）
11.拉力试验机：INSTRON3369型（载荷范围0.5-50kN，应变率0.001-500mm/min）
12.光谱分析仪：THERMOSCIENTIFICARL3460型（波长范围165-800nm，检出限0.001%）
13.温控槽：JJianCeABOF25型（温度稳定性±0.01°C，容量25L）
14.数据采集系统：NATIONALINSTRUMENTScDAQ-9181型（采样率100kS/s，通道数8）
15.泄漏检测仪：INFICONLDS3000型（灵敏度1×10⁻⁸mbar·L/s，测试压力100kPa）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
您好，欢迎访问北京中科光学科学技术研究所官网！
荣誉资质
研究院地址
中文
