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木料表面平整度检测

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关键字: 木料表面平整度项目报价,木料表面平整度测试标准,木料表面平整度测试范围
发布时间:2025-07-01 17:18:03
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检测项目

几何精度检测:

  • 平面度偏差:偏差值≤0.5mm/m(参照ISO 8514)
  • 直线度偏差:偏差≤0.3mm/m
  • 角度公差:公差±0.5°
表面粗糙度检测:
  • 算术平均粗糙度Ra:Ra≤3.2μm(参照GB/T 19367)
  • 最大高度Rz:Rz≤25μm
  • 轮廓算术平均偏差Rsm:Rsm≤0.5mm
波纹度检测:
  • 波纹高度:高度≤50μm
  • 波纹波长:波长≤10mm
  • 波纹频率:频率≤5Hz
表面缺陷检测:
  • 凹坑深度:深度≤0.2mm
  • 凸起高度:高度≤0.3mm
  • 裂纹长度:长度≤5mm
尺寸稳定性检测:
  • 变形量:变形≤0.1mm/m
  • 收缩率:收缩≤0.05%
  • 膨胀系数:系数≤0.001/°C
加工痕迹检测:
  • 切削痕迹深度:深度≤15μm
  • 砂光残留:残留量≤0.1μm
  • 刀具痕迹间距:间距≤0.5mm
轮廓一致性检测:
  • 轮廓偏差:偏差≤0.2mm
  • 轮廓重复性:重复精度±0.1mm
  • 轮廓平滑度:平滑度≥95%
表面硬度检测:
  • 布氏硬度:HB≥15
  • 耐磨指数:指数≥80
  • 压痕深度:深度≤0.05mm
光泽均匀性检测:
  • 光泽度GU:GU≥70(参照ASTM D523)
  • 光泽偏差:偏差±5GU
  • 反射均匀性:均匀性≥90%
清洁度检测:
  • 异物残留量:残留≤0.01%
  • 粉尘附着量:附着≤0.5mg/m²
  • 油脂残留:残留≤0.1μg/cm²

检测范围

1. 实木:检测重点为自然纹理导致的平整度偏差和表面粗糙度控制。

2. 胶合板:检测重点为层压结构引起的平面度误差和接缝处平整度。

3. MDF板:检测重点为纤维密度均匀性对表面平整度的影响和粗糙度一致性。

4. 刨花板:检测重点为颗粒分布不均造成的表面波纹和平面度偏差。

5. OSB板:检测重点为取向刨片引起的波动高度和整体几何精度。

6. 竹材:检测重点为纤维方向导致的变形量和表面粗糙度控制。

7. 集成材:检测重点为胶合线处的平整度偏差和尺寸稳定性。

8. 贴面板:检测重点为装饰层与基材贴合后的平面度一致性和缺陷检测。

9. 防腐木:检测重点为化学处理后的表面粗糙度变化和几何精度损失。

10. 人造板装饰面:检测重点为涂漆或覆膜后的光泽均匀性和轮廓平滑度。

检测方法

国际标准:

  • ISO 8514:1998 Wood - Determination of surface roughness(采用接触式探针测量)
  • ASTM D2394-17 JianCe Test Methods for Simulated Service Testing of Wood and Wood-Based Finish Flooring(涵盖平面度动态测试)
  • EN 325:2012 Wood-based panels - Determination of dimensions of boards(使用光学扫描方法)
国家标准:
  • GB/T 19367-2009 木材表面粗糙度测试方法(兼容非接触式激光测量)
  • GB/T 17657-2013 人造板及饰面人造板通用试验方法(包括平面度静态测试)
  • GB/T 15036.2-2018 实木地板(侧重尺寸稳定性检测)

方法差异说明:ISO标准与GB标准在测量原理上存在差异,ISO偏向多点接触式,GB允许光学非接触;ASTM的动态测试法与EN的静态扫描法在波纹度测试中精度不同。

检测设备

1. 激光表面粗糙度仪: Mitutoyo SJ-410(测量范围Ra 0.05-40μm)

2. 光学轮廓仪: Zygo NewView 8300(垂直分辨率0.1nm)

3. 直尺: 钢直尺(精度0.05mm)

4. 塞尺: 标准塞尺组(厚度0.02-1mm)

5. 激光扫描仪: Keyence LJ-V7000(采样频率392kHz)

6. 坐标测量机: Hexagon Global Silver(精度±1.5μm)

7. 表面平整度检测仪: Elcometer 456(测量范围±5mm)

8. 三维扫描仪: Artec Eva(精度0.1mm)

9. 显微镜: Olympus DSX1000(放大倍数20x-7000x)

10. 电子水平仪: Wyler Clinotronic(分辨率0.001°)

11. 轮廓投影仪: Nikon V-12B(放大倍数50x)

12. 粗糙度比对块: 标准比对块(Ra 0.1-12.5μm)

13. 接触式探针: Renishaw TP200(重复精度0.2μm)

14. 非接触式位移传感器: Micro-Epsilon optoNCDT 2300(量程100mm)

15. 多功能测量平台: Mitutoyo CRYSTA-Apex S(行程范围500mm)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户

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