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电子产品高温高湿贮存试验

原创
关键字: 电子产品高温高湿贮存试验测试仪器,电子产品高温高湿贮存试验测试周期,电子产品高温高湿贮存试验测试案例
发布时间:2025-07-01 18:29:43
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检测项目

环境适应性:

  • 温湿度稳定性:温度偏差≤±0.5℃(25℃~85℃),湿度波动度≤±2%RH(40%~95%RH)
  • 循环交变能力:温变速率≥1.5℃/min(参照IEC 60068-2-30 Db)
材料劣化:
  • 绝缘性能:绝缘电阻≥100MΩ(500VDC),介质强度(AC 3kV/60s无击穿)
  • 金属腐蚀:盐雾沉降量(1.0±0.2mL/80cm²·h),铜加速醋酸盐雾试验(CASS)评级≥9级
机械性能:
  • 结构变形:线性膨胀系数变化≤5%(ASTM D696),翘曲度≤0.3mm/100mm
  • 接合强度:焊点抗拉强度≥35N(JIS Z3198),胶层剥离力≥15N/cm
电学特性:
  • 接触可靠性:接触电阻变化率≤10%(初始值),微动磨损循环>5×10⁶次
  • 信号完整性:特性阻抗波动≤±5Ω(高频PCB),介电常数变化≤0.1(1GHz)
密封防护:
  • 防潮等级:IPX8防水(水深1m/30min),氦泄漏率≤5×10⁻⁶Pa·m³/s
  • 涂层附着力:胶带法百格测试0级脱落(ASTM D3359)
化学分析:
  • 离子污染:钠离子析出量≤0.2μg/cm²(IPC TM-650 2.3.25)
  • 有机挥发物:TVOC释放量≤50μg/m³(ISO 16000-9)
光学性能:
  • 显示衰减:亮度均匀性≥85%,色坐标偏移ΔE≤3.0(CIE LAB)
  • 透光率:光学窗口透射比变化≤2%(380-780nm)
热管理:
  • 散热效能:热阻变化率≤15%(结到环境)
  • 相变特性:导热膏滴点≥150℃(ASTM D2265)
电磁兼容:
  • 屏蔽衰减:30MHz~1GHz频段SE≥60dB
  • 静电防护:HBM模式ESD耐受≥8kV(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001)
失效分析:
  • 微观形貌:SEM观测裂纹分辨率≤0.1μm
  • 元素迁移:EDS面扫精度±0.1wt%

检测范围

1. PCB基材: FR-4至高频PTFE层压板,重点检测Z轴膨胀率及耐CAF性能

2. 半导体器件: BGA/CSP封装芯片,监控锡须生长及凸点剪切强度衰减

3. 连接器系统: 车规级端子与插座,测定镀层孔隙率与插拔力保持率

4. 金属结构件: 铝合金/镁合金外壳,量化点蚀密度与应力腐蚀开裂倾向

5. 光学组件: 摄像头模组与显示屏,分析镜片雾化度及偏光片分层风险

6. 密封元件: 橡胶密封圈与灌封胶,测试压缩永久变形及Tg点漂移

7. 储能单元: 锂离子电池组,测试隔膜闭孔温度及电解液分解产物

8. 磁性元件: 功率电感与变压器,检测磁芯损耗增长率及漆包线针孔

9. 表面处理层: 化学镀镍/三价铬钝化,监控CASS试验96h腐蚀面积

10. 导热界面材料: 硅脂与相变片,测定高温流淌性及热阻抗稳定性

检测方法

国际标准:

  • IEC 60068-2-78:2012 稳态湿热试验(Ta=85℃, RH=85%)
  • JIS C 0025:2010 温度/湿度组合循环试验(40℃/93%RH⇄65℃/80%RH)
  • MIL-STD-202G Method 103B 高压蒸煮试验(121℃/100%RH/2atm)
国家标准:
  • GB/T 2423.3-2016 恒定湿热试验(温度容差±2℃)
  • GB/T 2423.4-2008 交变湿热试验(升温斜率1℃/min,区别于IEC的1.5℃/min)
  • GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验(中性/醋酸盐雾)

检测设备

1. 恒温恒湿试验箱: ESPEC PL-3KT(温度范围-70℃~150℃,湿度范围10%~98%RH)

2. 高加速应力试验系统: Qualmark Typhoon 4.0(温变速率>40℃/min,振动量级40Grms)

3. 绝缘电阻测试仪: HIOKI IR4056-20(测量范围1×10⁴~1×10¹⁶Ω,测试电压1000V)

4. 盐雾腐蚀试验箱: Q-FOG CRH-600(喷雾量1.0mL/h·cm²,PH值自动补偿)

5. 氦质谱检漏仪: INFICON ELT3000(检出限5×10⁻¹²mbar·L/s)

6. 热机械分析仪: NETZSCH TMA 402 F3(膨胀量程±2.5mm,分辨率0.1nm)

7. 扫描电子显微镜: ZEISS GeminiSEM 500(分辨率0.8nm@15kV)

8. 高频阻抗分析仪: Keysight E4991B(频率范围1MHz~3GHz,基本精度±0.8%)

9. 微焦点X射线系统: YXLON FF35CT(最小焦点尺寸3μm,几何放大倍率200×)

10. 光谱辐射计: Konica Minolta CS-2000(亮度范围0.001~2,000,000cd/m²)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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