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线路板金相分析

原创
关键字: 线路板金相分析测试周期,线路板金相分析测试范围,线路板金相分析测试机构
发布时间:2025-07-10 09:19:58
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检测项目

金相结构分析:

  • 晶粒尺寸:平均直径≥5μm、晶界宽度≤0.2μm(参照ASTME112)
  • 相分布:均匀性≥95%、相比例偏差±2%
缺陷检测:
  • 空洞率:≤0.1%、最大尺寸≤20μm
  • 裂纹分析:长度≤10μm、深度≤5μm
成分分析:
  • 元素分布:铜纯度≥99.9wt%、杂质含量≤0.01wt%
  • 合金相鉴定:IMC层Cu6Sn5厚度1-3μm
厚度测量:
  • 铜层厚度:18-35μm、均匀性偏差±1μm
  • 镀层厚度:镍层1-2μm、金层0.05-0.1μm
硬度测试:
  • 显微硬度:维氏硬度HV0.1≥120、布氏硬度HB≥80
  • 纳米硬度:弹性模量≥100GPa
腐蚀分析:
  • 耐蚀性:盐雾测试≥48h无腐蚀、氧化层厚度≤0.5μm
  • 电化学腐蚀:腐蚀电位≥-0.2V
热影响区分析:
  • 热循环稳定性:晶粒粗化≤10%、热膨胀系数匹配度≥98%
  • 焊接热影响:IMC生长速率≤0.1μm/h
焊点可靠性:
  • 剪切强度:≥30MPa、断裂模式分析
  • 疲劳寿命:循环次数≥1000次
层间结合力:
  • 剥离强度:≥1.5N/mm、界面结合均匀性
  • 粘接强度:≥20MPa
表面粗糙度:
  • 铜面粗糙度:Ra≤0.5μm、Rz≤3μm
  • 基材平整度:偏差≤0.01mm

检测范围

1.FR4环氧树脂基板:检测热膨胀系数匹配性及吸水率影响,重点分析树脂固化状态和玻璃纤维分布

2.铜箔层:测试厚度均匀性及纯度,侧重表面氧化和微观缺陷识别

3.焊点区域:分析IMC层形态及厚度,检测空洞和裂纹在回流焊后的变化

4.镍金镀层:测量孔隙率及厚度一致性,重点测试耐腐蚀性和界面结合

5.铝基板:检测导热性能及热影响区,分析铝合金晶粒结构和氧化层

6.陶瓷基板:测试晶界缺陷及热稳定性,侧重微裂纹和相变分析

7.柔性电路板:检测弯曲疲劳及层间分离,重点分析聚酰亚胺基材的变形行为

8.高密度互连板:测量微孔填充及盲孔质量,测试铜沉积均匀性和缺陷密度

9.金属基复合板:分析界面结合强度及热循环性能,侧重铝铜复合层的扩散行为

10.导电胶粘接点:检测粘接强度及电阻稳定性,重点测试银颗粒分布和老化影响

检测方法

国际标准:

  • IPC-TM-650TestMethodsManual金相试样制备及分析
  • ASTME3-11金相显微镜检验标准
  • ISO1463金属和非金属膜厚度测量
  • ASTME384显微硬度测试方法
  • ISO9227盐雾腐蚀试验
国家标准:
  • GB/T16594微米级长度测量方法
  • GB/T1771金相显微镜检验规程
  • GB/T4334金属腐蚀试验方法
  • GB/T4340.1金属维氏硬度试验
  • GB/T228.1金属材料拉伸试验
方法差异说明:例如ASTME3与GB/T1771在试样抛光温度控制上差异(ASTM要求25°C恒温,GB/T允许20-30°C范围);IPC-TM-650与GB/T16594在膜厚测量精度上不同(IPC精度±0.1μm,GB/T±0.2μm)

检测设备

1.金相显微镜:OlympusBX53M型(放大倍数50-1000x,分辨率0.5μm)

2.扫描电子显微镜:HitachiSU5000型(分辨率1nm,加速电压0.1-30kV)

3.能谱分析仪:OxfordInstrumentsX-Max80型(检测限0.1wt%,元素范围B-U)

4.显微硬度计:BuehlerMicromet5104型(载荷范围10-1000gf,精度±1%)

5.轮廓仪:BrukerDektakXT型(测量精度±0.1μm,扫描范围50mm)

6.热重分析仪:PerkinElmerTGA4000型(温度范围RT-1000°C,精度±0.1°C)

7.X射线衍射仪:RigakuSmartLab型(角度精度0.0001°,扫描速度0.01-100°/min)

8.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon型(分辨率0.1nm,扫描范围100μm)

9.激光共聚焦显微镜:LeicaTCSSP8型(三维成像深度100μm,分辨率0.2μm)

10.离子研磨机:LeicaEMTIC3X型(离子束能量5-10keV,处理时间10-60min)

11.抛光机:StruersTegramin-30型(转速50-300rpm,压力范围5-30N)

12.切割机:StruersSecotom-50型(切割精度±0.01mm,最大样本尺寸50mm)

13.蚀刻设备:BuehlerEcoMet250型(蚀刻液流量控制0.1-1mL/min,时间精度±1s)

14.图像分析软件:ClemexVisionPE型(自动晶粒尺寸分析,精度±2%)

15.环境模拟箱:ESPECPL-3型(温度范围-40-150°C,湿度控制10-98%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

内容-荣誉资质

其他证书详情(可咨询在线工程师):

荣誉资质 国防经济发展促进会 AAA级信用证书

合作客户(部分)

1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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