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高新技术企业证书
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温度附加衰减检测

原创
发布时间:2026-01-14 23:57:40
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检测项目

1.基础传输性能检测:常温插入损耗,常温回波损耗,电压驻波比。

2.温度循环衰减检测:高低温循环后插入损耗变化量,温度梯度下的附加衰减系数,极限温度点衰减稳定性。

3.连接器性能检测:连接器插拔耐久性衰减,连接界面氧化敏感性测试。

4.光纤组件检测:光纤跳线温度附加衰减,光纤适配器插损温漂,光纤阵列热致损耗。

5.波导器件检测:波导热漂移系数,波导结构热应力附加损耗。

6.同轴组件检测:同轴电缆衰减温度系数,同轴连接器热循环插损稳定性。

7.材料本征性能检测:介质材料损耗角正切温变特性,导体材料电阻率温度系数。

8.光模块性能检测:光发射组件温度相关输出光功率变化,光接收组件灵敏度温漂。

9.滤波器与天线检测:滤波器中心频率热漂移,天线增益温度稳定性。

10.环境适应性检测:温度-湿度综合应力下的衰减性能,热冲击后性能恢复测试。

检测范围

射频同轴连接器、光纤活动连接器、陶瓷介质滤波器、微波波导元件、高速数据电缆、射频传输线、光纤跳线、光收发一体化模块、天线馈电网络、功率分配器、耦合器、衰减器、隔离器、环形器、印刷电路板、高频基板材料、半导体芯片封装互连结构、光电转换器件、微波复合介质材料、热缩套管

检测设备

1.矢量网络分析仪:用于精确测量被测件在不同温度下的散射参数,如插入损耗与回波损耗;具备高精度和宽频带测试能力。

2.高低温温箱:提供可控的温度环境,用于模拟被测件经历的高温、低温及温度循环条件;温控精度高,温度变化速率可调。

3.光功率计与稳定光源:构成光纤器件衰减测试系统,测量光信号通过器件后的功率变化;光源输出稳定,功率计灵敏度高。

4.温度循环试验箱:执行规定的温度循环剖面,考核器件在冷热交替应力下的性能衰减与可靠性。

5.精密测温系统:实时监测并记录被测件关键部位或环境温度,确保测试条件准确;通常采用热电偶或热电阻传感器。

6.插损回损测试仪:专用于通信电缆和连接器的插入损耗、回波损耗快速测试;操作简便,测试效率高。

7.可编程直流电源:为有源器件或测试系统提供稳定可靠的工作电压与电流。

8.光学衰减测试系统:集成多波长光源、光开关和检测单元,自动化测试光器件在不同温度下的衰减谱线。

9.热流仪或热阻测试仪:分析器件或材料的热特性,辅助测试温度变化对电气性能影响的物理机理。

10.数据采集与控制系统:同步控制温箱与测试仪表,自动采集、记录和处理不同温度点下的性能参数数据。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户