检测项目
1.基础精度校准:示值误差检测、重复性检测、稳定性检测。
2.温度响应特性:时间常数测定、热响应时间检测、滞后性测试。
3.温度范围性能:量程内多点校准、上限与下限温度点精度验证。
4.环境影响测试:温度梯度影响检测、环境温度变化附加误差测试。
5.长期稳定性测试:持续运行下的精度漂移检测、寿命周期精度变化测试。
6.插入深度影响:不同插入深度下的测温偏差检测。
7.热辐射误差检测:针对辐射式测温设备,测试背景热源干扰引入的误差。
8.发射率设定影响:红外测温设备在不同材料发射率设定下的精度验证。
9.电气性能关联检测:输出信号与温度值的线性度检测、绝缘电阻对精度的影响。
10.多传感器一致性比对:同一温场内多个传感器示值的一致性分析与校准。
11.动态温度追踪精度:在温度快速变化过程中,传感器示值跟踪真实温度的能力检测。
检测范围
热电偶、热电阻、集成芯片式数字温度传感器、红外测温仪、热成像仪、光纤温度传感器、表面温度计、烤箱与炉窑用温控探头、工业过程在线测温传感器、恒温槽内置传感器、温度变送器、温度校验仪、温度记录仪、烘焙设备探头、塑料挤出机温控探头、热处理炉用测温元件
检测设备
1.高精度标准铂电阻温度计:作为温度量值传递的基准,提供高准确度的标准温度值;其长期稳定性和复现性极佳。
2.恒温槽与干体炉:提供均匀、稳定的温场环境,用于传感器在不同温度点下的静态校准与测试。
3.黑体辐射源:用于校准红外测温设备,提供已知温度且发射率接近理想值的标准辐射面。
4.温度校验仪:多功能设备,可模拟输出热电偶、热电阻信号,同时测量被测传感器的输出,进行比对校准。
5.高速数据采集器:用于记录传感器在动态温度变化过程中的响应数据,分析其时间常数与跟踪性能。
6.低热电势扫描开关:在多通道传感器校准中,用于切换测量回路,避免引入额外的热电势影响测量精度。
7.精密测温电桥:高精度测量标准铂电阻温度计或其他电阻式传感器的电阻值,通过计算得到精确温度。
8.标准红外温度计:作为传递标准,用于校准工作用红外测温仪,其自身需定期溯源至更高标准。
9.环境试验箱:用于测试传感器在不同环境温度条件下其自身性能的变化及附加误差。
10.绝缘电阻测试仪:检测传感器引线与其外壳之间的绝缘电阻,测试绝缘性能下降对测温精度可能产生的影响。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。