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取向分布试验

原创
发布时间:2026-01-15 02:08:38
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检测项目

1.晶体取向分析:极图测定,反极图测定,取向分布函数计算。

2.织构类型判定:丝织构识别,板织构识别,再结晶织构判定。

3.取向集中度分析:最大织构强度计算,织构组分体积分数定量。

4.微观取向成像:取向衬度成像,晶界取向差分布分析。

5.宏观织构分析:样品表面平均取向测定,织构均匀性测试。

6.择优取向度计算:利用极图数据计算材料的整体取向偏好程度。

7.再结晶晶粒取向分析:区分并分析再结晶晶粒与变形基体的取向特征。

8.相组成取向关联分析:在多相材料中,分析不同相的各自取向分布。

9.梯度材料取向分析:沿材料厚度或特定方向上的取向分布梯度测定。

10.动态过程模拟关联分析:结合工艺参数,分析取向演变与轧制、拉伸等过程的关联。

检测范围

冷轧钢板、电工硅钢片、铝合金板材、钛合金锻件、铜及铜合金带材、高温合金单晶叶片、金属镀层、焊接接头热影响区、高分子拉伸薄膜、碳纤维复合材料预制体、陶瓷基复合材料、金属线材、轧制铝箔、磁控溅射镀膜、退火态铜管、增材制造金属部件、深冲压用钢杯突试样、稀土永磁材料、金属轧辊表层材料、单向拉伸后的高分子试样

检测设备

1.X射线衍射仪:用于宏观织构的无损测定,通过测量极图来推算三维取向分布函数。

2.电子背散射衍射系统:安装在扫描电子显微镜上,实现微米至纳米尺度的晶体取向高分辨成像与定量统计。

3.织构测角仪:专门为快速、精确的极图测量而设计,具备多轴样品旋转功能。

4.金相试样抛光机:为电子背散射衍射分析制备具备无应力、无划痕的镜面样品表面。

5.离子束切割仪:用于制备电子背散射衍射分析所需的最终样品截面,避免机械制样引入的假象。

6.织构分析专用软件:处理衍射或衍射数据,完成极图、反极图绘制及取向分布函数计算。

7.显微硬度计:在取向分析前或后,对特定微区进行硬度测试,关联取向与力学性能。

8.高温样品台:与衍射仪或电子显微镜联用,实现材料在变温过程中的原位取向演变研究。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

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