检测项目
1.基础介电性能测试:介电常数与损耗角正切值关联测试,绝缘电阻率测试。
2.频率特性测试:宽频率范围内损耗角正切谱扫描,特定应用频率点损耗角正切值测定。
3.温度特性测试:损耗角正切值随温度变化曲线测试,高温下介质损耗稳定性测试。
4.电压特性测试:不同电场强度下损耗角正切值测试,击穿电压前损耗特性分析。
5.湿度影响测试:潮湿环境下介质损耗角正切值变化测试。
6.材料均匀性测试:同一材料不同批次或不同部位损耗角正切值一致性测试。
7.老化与寿命测试:长期电应力或热应力作用后损耗角正切值变化测试。
8.复合材料界面特性测试:多层或填充复合材料界面极化引起的损耗特性分析。
9.高频应用专项测试:微波频段介质损耗角正切值精确测量。
10.低温性能测试:极低温环境下介质损耗特性测试。
检测范围
薄膜电容器介质、陶瓷电容器介质、铝电解电容器电解纸、云母片、玻璃釉、高分子绝缘薄膜、环氧树脂灌封料、印制电路板基材、高频电路基板、电缆绝缘层、变压器绝缘油、电机绕组浸渍漆、半导体封装材料、电子陶瓷基片、铁电材料、压电材料、微波介质材料、绝缘胶带、柔性电路基材、复合绝缘子材料
检测设备
1.宽频介电阻抗谱仪:用于在宽频率范围内自动扫描测量材料的介电常数与损耗角正切值;具备宽频带测试能力和温度控制附件。
2.精密电感电容电阻测量仪:用于在固定频率点精确测量电容器的电容值与损耗因子;测量精度高,适用于标准频率测试。
3.高压西林电桥:专门用于在高电压条件下测量绝缘材料的介质损耗角正切值和电容;可施加数千伏测试电压。
4.矢量网络分析仪:用于微波频段材料介电性能的测量;通过散射参数计算得到复介电常数与损耗角正切。
5.恒温恒湿箱:为损耗角正切测试提供稳定的温度与湿度环境;用于研究环境条件对介质损耗的影响。
6.高温介电测试系统:集成了加热装置与电极系统的测试平台;用于测量材料在高温下的介质损耗特性。
7.低温恒温器:为样品提供可控的低温测试环境;用于研究材料在低温下的介电行为与损耗。
8.标准电容器:作为电桥测量中的高精度对比基准;具有极低且稳定的自身损耗值。
9.屏蔽测试夹具:用于固定不同形态的样品并连接测试仪器;具备良好的电磁屏蔽性能以减少干扰。
10.电极系统:包括三电极系统、平行板电极等;用于在不同测试标准下与样品形成稳定的电接触。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。