室温电阻率测试

检测项目

1.半导体材料电阻率测试：体电阻率，表面电阻率，方块电阻，不均匀性分析。

2.绝缘材料电阻率测试：体积电阻率，表面电阻率，绝缘电阻，耐电弧性测试。

3.导电与电阻材料测试：导电涂料电阻率，导电胶体电阻，电阻浆料方阻，导电薄膜面电阻。

4.陶瓷与玻璃材料测试：电真空陶瓷电阻率，基板材料绝缘电阻，玻璃釉电阻率。

5.高分子聚合物测试：防静电材料体积电阻，绝缘塑料表面电阻，导电高分子电阻率。

6.涂层与镀层测试：金属镀层电阻率，防静电涂层表面电阻，透明导电涂层方块电阻。

7.粉末与颗粒材料测试：碳粉体积电阻率，金属粉末导电性，石墨颗粒电阻特性。

8.复合材料测试：碳纤维复合材料电阻率，导电填充型复合材料体积电阻。

9.薄膜与厚膜材料测试：薄膜电阻率，厚膜电阻方阻，膜层均匀性测试。

10.块体与片状材料测试：金属合金电阻率，石墨块材导电性，硅片径向电阻分布。

11.各向异性材料测试：材料横向与纵向电阻率，晶向相关性电阻测量。

检测范围

半导体晶圆、硅片、砷化镓衬底、绝缘陶瓷基板、环氧玻璃布层压板、聚乙烯薄膜、导电硅橡胶、导电银浆、电阻浆料、金属溅射薄膜、氧化铟锡透明导电玻璃、石墨烯薄膜、碳纤维预浸料、防静电涂料、金属粉末、高分子导电母粒、热电材料、压敏电阻瓷片、玻璃釉电阻、磁性材料

检测设备

1.四探针电阻率测试仪：用于测量半导体材料、薄膜及片状样品的电阻率与方块电阻；采用四针线性或方形排列，可消除接触电阻影响。

2.高阻计：用于测量绝缘材料及高电阻材料的体积电阻率和表面电阻率；配备标准电极箱，提供稳定的测试电场。

3.数字微欧计：用于精确测量低值电阻及导电材料的电阻率；通常采用四端法测量，具有高分辨率和低噪声特性。

4.静电计/源表：用于高精度测量微弱电流与高阻抗电压，适用于宽范围电阻率测试；具备高输入阻抗与皮安级电流测量能力。

5.探针台：用于对半导体晶圆、芯片等微小样品进行定点电阻率测试；配备精密微动探针和显微镜，实现图形化测试。

6.电阻率各向异性测试系统：用于测量材料在不同方向上的电阻率差异；包含可旋转样品台与多方向探针阵列。

7.粉末电阻率测试装置：专用于测量粉末或颗粒状材料的体积电阻率；配备标准测试盒与恒压压实机构。

8.环境可控电阻测试箱：可在特定温湿度环境下进行电阻率测试，测试环境因素对材料导电性能的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.