检测项目
1.封装完整性检测:封装体开裂、缺角、气泡、毛边、溢料、填充不满。
2.标记与印刷质量:字符清晰度、标识正确性、印刷牢固度、位置偏移、内容缺失。
3.引脚与端子检测:引脚氧化、锈蚀、镀层脱落、弯曲变形、共面性、损伤断裂。
4.表面涂层与镀层测试:涂层均匀性、起皮、剥落、颜色一致性、光泽度、气泡。
5.洁净度与污染物分析:灰尘附着、纤维残留、油污、焊剂残留、离子污染、指纹。
6.机械损伤检测:划痕、压痕、撞击痕、崩边、翘曲变形。
7.焊接部位外观检测:焊点光泽、虚焊、冷焊、焊锡球、桥连、浸润不良。
8.尺寸与形位检测:外形尺寸、引脚间距、厚度、平面度、垂直度。
9.材料缺陷检测:色差、异色点、杂质、分层、内部空洞。
10.装配与对齐检测:部件错位、倾斜、缺失、反向、贴合间隙。
11.腐蚀与氧化检测:电化学迁移、硫化、氯化、引脚发黑、表面钝化膜异常。
检测范围
贴片电阻、贴片电容、贴片电感、集成电路、芯片封装体、二极管、三极管、连接器、接插件、继电器、石英晶体振荡器、发光二极管、按钮开关、印刷电路板、线缆组件、散热片、屏蔽罩、变压器、保险丝、电感线圈
检测设备
1.光学显微镜:用于低倍至中倍放大观察,检测产品宏观外观缺陷、标记印刷及装配情况。
2.视频显微镜:结合高清摄像系统,实现实时观测、图像捕捉与测量,便于多人评审与记录存档。
3.立体显微镜:提供三维立体视觉,特别适用于检测引脚共面性、焊接形态及复杂结构的表面状况。
4.金相显微镜:用于高倍率观察材料微观结构、涂层截面厚度及界面结合情况,分析缺陷根源。
5.扫描电子显微镜:提供极高的景深和放大倍数,用于观察纳米级表面形貌、微裂纹及污染物成分的初步分析。
6.X射线检测系统:无损透视产品内部,检测封装内部空洞、芯片粘接异常、引线键合缺陷及隐藏的组装问题。
7.自动光学检测系统:基于机器视觉技术,高速、自动化地完成批量产品的外观缺陷筛选与尺寸测量。
8.轮廓投影仪:通过光学投影放大轮廓,精确测量产品外形尺寸、角度以及复杂形状的几何参数。
9.色差仪:量化测量产品表面颜色坐标与色差值,客观评价颜色的一致性与是否符合要求。
10.光泽度计:测量物体表面镜面反射光的能力,用于测试涂层、塑料外壳等表面的光泽品质是否均匀一致。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。