颗粒数测试

检测项目

1.颗粒数量与尺寸分布：单位面积或体积内不同粒径区间的颗粒数量统计，粒径分布曲线分析。

2.非挥发性残留物分析：清洗后残留的有机物或无机物总量测定，表面污染物提取与称重。

3.纤维状污染物检测：特定长度与直径的纤维状颗粒的识别与计数。

4.金属颗粒鉴别：导电性金属颗粒的识别、分类与数量统计。

5.非金属颗粒鉴别：二氧化硅、塑料、粉尘等非导电颗粒的识别与分类。

6.离子污染度测试：通过溶液提取法测量表面可溶离子残留总量。

7.颗粒化学成分分析：对单个典型颗粒进行元素成分或分子结构鉴定。

8.清洁工艺有效性验证：对比清洗前后颗粒数量与种类变化，测试清洁效率。

9.封装内部空洞与异物分析：对密封元件内部存在的游离颗粒或封装缺陷进行检测。

10.工作液清洁度监控：对清洗剂、冷却液等工艺液体中的颗粒污染物进行分级评定。

11.洁净室环境颗粒监控：生产环境中悬浮颗粒的浓度与粒径分布监测。

12.颗粒来源分析：结合形态与成分，追溯污染物的可能产生环节。

检测范围

集成电路、半导体芯片、陶瓷封装体、印刷电路板、连接器、继电器、传感器、微电机、光电模块、晶振、滤波器、散热基板、密封胶体、键合丝、引线框架、封装模具、清洗夹具、工艺用超纯水、高纯气体管路

检测设备

1.光学颗粒计数器：基于光散射原理，对液体或气体中的颗粒进行自动计数与粒径分级；具备高分辨率与高计数效率。

2.扫描电子显微镜：提供微米至纳米级的高分辨率形貌观察；用于精确测量颗粒尺寸与观察表面形态。

3.能量色散X射线光谱仪：与电子显微镜联用，对观测到的颗粒进行快速元素成分定性及半定量分析。

4.激光粒度分析仪：通过激光衍射法测量悬浮液中颗粒群的粒径分布；分析范围宽，统计代表性强。

5.离子色谱仪：分离和检测溶液中的阴离子与阳离子；用于精确分析表面离子污染物种类与含量。

6.超声波萃取装置：利用超声波能量将元件表面的污染物振荡剥离并收集到萃取液中，用于后续分析。

7.真空过滤系统：将含有颗粒的液体样本过滤到特定材质的膜上，实现颗粒的收集、浓缩与固定。

8.洁净工作台与百级洁净室：提供局部或整体的超低颗粒浓度环境，防止样本在制备与分析过程中受到二次污染。

9.分析天平：高精度称重设备，用于非挥发性残留物总量的精确测量，灵敏度可达微克级。

10.红外光谱显微镜：结合显微观察与红外光谱分析，对微小颗粒或污染物区域进行有机成分的分子结构鉴定。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.