比电阻测试

检测项目

1.薄膜材料体积比电阻测试：测量导电或半导体薄膜在厚度方向上的电阻特性。

2.薄膜材料表面比电阻测试：测试薄膜表面方阻，适用于透明导电膜等。

3.块体材料体积比电阻测试：测定固态材料整体的电阻率。

4.粉末材料比电阻测试：测量粉体在特定压实状态下的电阻特性。

5.各向异性材料比电阻测试：分析材料在不同晶体方向上的电阻率差异。

6.高温比电阻测试：监测材料在高温环境下的电阻率变化。

7.低温比电阻测试：测试材料在低温条件下的导电行为。

8.温度系数测试：测定电阻率随温度变化的比率。

9.光电导比电阻测试：测量材料在光照条件下的电阻率变化。

10.场效应比电阻测试：研究外加电场对材料电阻率的调制作用。

11.压力-比电阻关系测试：分析机械压力对材料导电性能的影响。

12.湿度-比电阻关系测试：测试环境湿度对材料电阻特性的影响。

检测范围

单晶硅片、多晶硅锭、砷化镓晶圆、氧化铟锡导电玻璃、导电高分子薄膜、金属溅射薄膜、陶瓷基板、压敏电阻瓷料、热电材料、石墨烯薄膜、碳纳米管阵列、导电银浆、锂离子电池电极材料、半导体封装胶膜、柔性电路基材

检测设备

1.四探针电阻测试仪：用于精确测量薄膜或薄层材料的方块电阻与电阻率；采用直线或方形探针排列，可消除接触电阻影响。

2.高阻计：用于测量绝缘材料或高电阻材料的体积电阻率和表面电阻率；配备标准电极与屏蔽箱，可测量高达10的18次方欧姆的电阻。

3.源测量单元：提供精密电压或电流源并同步测量响应；适用于材料电流-电压特性曲线绘制及电阻计算。

4.粉末电阻率测试仪：专用于测量粉末、颗粒状材料的电阻率；配备标准测试模具与恒压装置，确保样品压实密度一致。

5.高温电阻测试系统：集成高温炉与电阻测量模块；可在惰性气体或真空环境下进行材料高温电阻特性分析。

6.低温恒温器电阻测试系统：结合低温杜瓦与精密测量仪表；用于研究材料在液氮乃至液氦温区下的超导转变或低温电学行为。

7.霍尔效应测试系统：通过测量霍尔电压与电阻，同步获得材料的电阻率、载流子浓度与迁移率；配备电磁铁提供稳定磁场。

8.探针台：用于微区电学性能测试的精密平台；配合显微镜与微探针，可对芯片、微小样品或特定区域进行定位比电阻测试。

9.光电导测试系统：集成光源、单色仪与电阻测量单元；用于研究半导体材料的光电响应特性与暗态/光态电阻比。

10.阻抗分析仪：在宽频率范围内测量材料的阻抗、导纳等参数；适用于分析材料介电性能与导电机制的频率依赖性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.