Emax斜率测定试验

检测项目

1.静态参数斜率测试：阈值电压漂移斜率，饱和电流变化斜率，关态漏电流增长斜率。

2.动态性能斜率测试：开关时间变化速率，跨导衰减斜率，导通电阻上升斜率。

3.栅极可靠性斜率测试：栅氧击穿电压变化趋势，栅漏电流时变斜率，界面态密度增长速率。

4.热载流子效应斜率测试：热载流子注入引起的参数退化速率，衬底电流变化斜率。

5.偏置温度不稳定性斜率测试：正偏置温度不稳定性参数漂移斜率，负偏置温度不稳定性参数漂移斜率。

6.长时间应力测试斜率：高温工作寿命参数退化斜率，高温栅偏寿命参数退化斜率。

7.瞬态响应斜率测试：开启过程中的电压电流变化率，关断过程中的电压电流变化率。

8.电容电压特性斜率测试：平带电压漂移斜率，积累区电容变化速率。

9.噪声特性变化斜率测试：低频噪声谱密度增长斜率，随机电报噪声幅度变化趋势。

10.辐射效应斜率测试：总剂量辐射下参数退化速率，单粒子效应敏感参数变化斜率。

11.互连与接触斜率测试：接触电阻随时间增大斜率，金属互连线电迁移失效速率。

12.封装可靠性相关斜率：温循后键合点电阻变化率，潮湿环境下漏电流增长斜率。

检测范围

金属氧化物半导体场效应晶体管、绝缘栅双极型晶体管、双极结型晶体管、各种二极管、晶闸管、集成电路芯片、功率模块、光电耦合器、存储器单元、传感器敏感元件、微波射频器件、微机电系统器件、半导体激光器、发光二极管、太阳能电池芯片

检测设备

1.精密半导体参数分析仪：提供高精度、可编程的直流与脉冲测试信号，用于精确测量并记录器件参数随时间的连续变化；具备高分辨率与低噪声特性。

2.高温高可靠寿命试验系统：为器件施加高温环境和电应力，模拟长期工作条件；具备多通道并行测试与数据实时监控功能。

3.超快速脉冲发生器与采样设备：产生纳秒或皮秒级脉冲信号并捕捉瞬态响应，用于分析器件在开关过程中的动态参数变化斜率。

4.电容电压测量仪：精确测量半导体器件的电容随偏压变化的特性，用于分析界面态与氧化层电荷引起的平带电压漂移速率。

5.高精度恒温箱与冷热冲击箱：提供稳定的高温、低温或快速温度循环环境，用于测试温度应力下的参数斜率变化。

6.低频噪声测试系统：测量器件在低频段的噪声频谱，通过分析噪声功率谱密度随时间的变化来测试缺陷增长速率。

7.辐射源与在线测试系统：提供电离辐射环境，并实时监测器件在辐射剂量累积过程中各项电参数的退化斜率。

8.微电阻测试仪与探针台：用于精确测量半导体芯片上互连线、接触孔或键合点的微电阻，并监测其随应力时间的变化率。

9.高稳定性直流偏压电源：提供长期稳定的直流偏置电压或电流，用于施加持续的电应力以进行可靠性斜坡测试。

10.数据采集与斜率分析软件：自动采集、存储测试数据，并通过内置算法计算参数变化曲线的一阶导数或拟合斜率，生成标准化报告。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.