检测范围
压力传感器、温度传感器、位移传感器、加速度传感器、霍尔传感器、磁传感器、光电传感器、接近传感器、液位传感器、流量传感器、称重传感器、编码器、角度传感器、倾角传感器、力传感器等。
检测项目
低温工作试验、低温贮存试验、低温耐久试验、冷启动试验、低温稳定性、低温漂移、低温绝缘性能、低温功能检测、低温外观检测、低温密封性、低温电气性能、低温机械性能、低温精度变化、低温恢复特性、冻结耐受性等。
检测仪器(部分):
低温试验箱,高低温试验箱,温度记录仪,绝缘电阻测试仪,功能测试装置,标准压力源,标准温度源,数据采集系统,热电偶,表面温度计等。
检测方法(部分):
低温工作法:在规定低温条件下测试传感器工作性能,验证低温功能特性。常用的设备有低温试验箱和功能测试装置。
低温贮存法:将传感器在低温条件下贮存一定时间后测试性能变化。常用的设备有低温试验箱和测量仪表。
冷启动法:在低温条件下启动传感器,测试启动特性和响应时间。常用的设备有低温试验箱和计时装置。
温度循环法:对传感器进行低温到常温的循环试验,测试冷热疲劳特性。常用的设备有高低温试验箱和控制系统。
参考标准
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T 2423.34-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
IEC 60068-2-1-2007 环境试验 第2部分:试验 试验A:低温
IEC 60068-2-14-2009 环境试验 第2部分:试验 试验N:温度变化
MIL-STD-810G 环境工程考虑和实验室试验
JJG 860-2015 压力传感器检定规程
ISO 16750-4-2010 道路车辆 电气和电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。